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產品簡介
UV-313/340型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。UV-313/340型紫外輻照計丨室外輻射儀生產廠家。
詳細介紹
UV-313/340型紫外輻照計
UV-313/340型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。UV-313/340型紫外輻照計丨室外輻射儀生產廠家。
產品特點:
* 光譜及角度特性經嚴格校正
* 數字液晶顯示，帶背光
* 手動/自動量程切換
* 數字輸出接口（USB冗余供電）
* 低電量提醒
* 自動延時關機
* 有數字保持
* 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
主要技術指標：
探頭（二選其一）： | UV-313nm 探頭 | UV-340nm 探頭 |
波長范圍及峰值波長: | λ：(290～340)nm；λP＝313nm | λ：(315～370)nm；λP＝340nm |
紫外帶外區雜光： | UV313：小于0.05% | UV340：小于0.05% |
輻照度測量范圍： | (0.1～199.9×103) μW/cm2 | |
相對示值誤差： | ±10%（相對與NIM標準） | |
角度響應特性： | ±5%(α ≤10°) | |
線性誤差： | ±1% | |
短期不穩定性： | ±1%（開機30min后） | |
響應時間： | 1秒 | |
使用環境： | 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH | |
尺寸和重量： | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | |
電源： | 常規使用6F22型9V積層電池一只 | |
UV-313/340型紫外輻照計丨室外輻射儀生產廠家