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Microderm CMS便攜式Beta射線無損測厚儀
美國UPA Microderm CMS便攜式貝塔射線無損測厚儀
美國UPA Microderm CMS手提式貝爾塔射線無損測厚儀
美國UPA玻璃膜層測試儀產品介紹
世界上*款手持式β射線測量儀器
精確測量涂鍍層厚度
在生產線上可作為手持式儀器，在質量控制實驗室可作為臺式儀器使用
● 多樣化的探針和探針臺設備可測量大多數不同尺寸和形狀的樣品
● 菜單控制、友好操作界面的軟件和易于讀數的背景光讀數顯示
● 可通過USB端口將樣品數據傳輸至電腦
● 人體力學設計，使用舒適、方便、效率高
● 充電式鎳電池，可連續測量使用20小時
● 充電底座可充當測量工作臺
美國UPA玻璃膜層測試儀典型應用：
粘合劑/鋼,鋁,玻璃；鋁/鐵鎳鈷合金,鋼,玻璃,硅；
氧化鋁/鎳合金；巴式合金/青銅,黃銅,銅,鐵；
銅/鋁,鈹,碳,陶瓷,塑膠；鉻/銅,鋁；
鎘/鋼,黃銅,不銹鋼；化學鎳/鋁,塑膠；
金/鎳,銅,硅,陶瓷；氧化鐵/聚酯薄膜；
鉛/黃銅,青銅；滑潤劑/鋼,鋁,黃銅,銅；
聚酯薄膜厚度；
鎳/鋁,鈹；鈀/鎳；
光阻材料/銅；鉑/鎳；底漆/玻璃；
銠/鎳,銅,金；銀/銅,鎳,陶瓷；
硅/塑膠；焊錫/銅,黃銅；
鉭/玻璃；錫/銅,黃銅,鋼；
錫鎳合金/鎳；氮化鈦/鋼,不銹鋼；
MicroDermCMS規格參數:
尺寸：9.5″×5.0″×2.5″（250mm×125mm×62.5mm）
重量：1.5lbs. （0.65kg）
顯示：2″×2.4″（50mm×60mm）背景光顯示區域320×240像素；?VGA
存儲：100 應用；20 校準；350,000 測量結果存儲
統計：平均值，標準偏差，
zui大/小值，范圍
輸出：9針串口至USB
電池：可充電式4AA 2500mAh NiMH電池
HH-3型和HH-2型探針是zui通用的β射線探針，這些類型探針可以測量大多數不同尺寸和形狀的微小樣品，如圓柱體、薄片、擋風玻璃、電子元器件和微小面積樣品。
SPG-1 Probe Guide
SPG-1用來定位HH-3探針在微小表面積上的測量，如電子元器件。
WF Probe Guide
WF是一款理想的工具應用于航空、汽車或其它需要測量大面積表面的工業（擋風玻璃、金屬板、薄板等）
UMS Probe Stand
UMS探測臺用于HH-3探針可精確控制測量位置，底臺上附有固定設備。
BTF Probe
BTF β射線薄膜厚度測量探針可以測量極其稀薄的濕或干的涂層，如沖壓滑潤劑、底漆、扁平零件上的粘合劑等。
HH-4 Probe
HH-4探針主要用來測量樣品內部便面的涂/鍍層，如管形材料、軸承、環形物、圓柱形物體等。
PS 10-A Probe Table
PS-10A工作臺用來進行精確、即時測量非常小的零部件和電子元器件，如連接器、接觸頭、插腳、接線端等。
精確測量涂鍍層厚度
在生產線上可作為手持式儀器，在質量控制實驗室可作為臺式儀器使用
● 多樣化的探針和探針臺設備可測量大多數不同尺寸和形狀的樣品
● 菜單控制、友好操作界面的軟件和易于讀數的背景光讀數顯示
● 可通過USB端口將樣品數據傳輸至電腦
● 人體力學設計，使用舒適、方便、效率高
● 充電式鎳電池，可連續測量使用20小時
● 充電底座可充當測量工作臺
美國UPA玻璃膜層測試儀典型應用：
粘合劑/鋼,鋁,玻璃；鋁/鐵鎳鈷合金,鋼,玻璃,硅；
氧化鋁/鎳合金；巴式合金/青銅,黃銅,銅,鐵；
銅/鋁,鈹,碳,陶瓷,塑膠；鉻/銅,鋁；
鎘/鋼,黃銅,不銹鋼；化學鎳/鋁,塑膠；
金/鎳,銅,硅,陶瓷；氧化鐵/聚酯薄膜；
鉛/黃銅,青銅；滑潤劑/鋼,鋁,黃銅,銅；
聚酯薄膜厚度；
鎳/鋁,鈹；鈀/鎳；
光阻材料/銅；鉑/鎳；底漆/玻璃；
銠/鎳,銅,金；銀/銅,鎳,陶瓷；
硅/塑膠；焊錫/銅,黃銅；
鉭/玻璃；錫/銅,黃銅,鋼；
錫鎳合金/鎳；氮化鈦/鋼,不銹鋼；
MicroDermCMS規格參數:
尺寸：9.5″×5.0″×2.5″（250mm×125mm×62.5mm）
重量：1.5lbs. （0.65kg）
顯示：2″×2.4″（50mm×60mm）背景光顯示區域320×240像素；?VGA
存儲：100 應用；20 校準；350,000 測量結果存儲
統計：平均值，標準偏差，
zui大/小值，范圍
輸出：9針串口至USB
電池：可充電式4AA 2500mAh NiMH電池
HH-3型和HH-2型探針是zui通用的β射線探針，這些類型探針可以測量大多數不同尺寸和形狀的微小樣品，如圓柱體、薄片、擋風玻璃、電子元器件和微小面積樣品。
SPG-1 Probe Guide
SPG-1用來定位HH-3探針在微小表面積上的測量，如電子元器件。
WF Probe Guide
WF是一款理想的工具應用于航空、汽車或其它需要測量大面積表面的工業（擋風玻璃、金屬板、薄板等）
UMS Probe Stand
UMS探測臺用于HH-3探針可精確控制測量位置，底臺上附有固定設備。
BTF Probe
BTF β射線薄膜厚度測量探針可以測量極其稀薄的濕或干的涂層，如沖壓滑潤劑、底漆、扁平零件上的粘合劑等。
HH-4 Probe
HH-4探針主要用來測量樣品內部便面的涂/鍍層，如管形材料、軸承、環形物、圓柱形物體等。
PS 10-A Probe Table
PS-10A工作臺用來進行精確、即時測量非常小的零部件和電子元器件，如連接器、接觸頭、插腳、接線端等。