產地類別 | 國產 | 應用領域 | 化工,能源,電氣 |
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產品簡介
詳細介紹
表面光電壓是固體表面的光生伏*應,是光致電子躍遷的結果。表面光電壓技術是一種研究半導體特征參數的ji jia途徑,這種方法是通過對材料光致表面電壓的改變進行分析來獲得相關信息的。
早在 1876 年 ,W. G. Adams就發現了這一現象,然而直到1948年才將這一效應作為光譜檢測技術應用于半導體材料的特征參數和表面特性研究上 ,這種光譜技術稱為技術(Sur face Photov oltaic Technique,簡稱SPV)或譜(Sur facePhotov oltage Spectroscopy ,簡稱SPS) 。
技術是一種研究半導體特征參數的ji jia途徑 ,這種方法是通過對材料光致表面電壓的改變進行分析來獲得相關信息的。1970 年 ,表面光伏研究獲得重大突破 ,美國麻省理工學院 G ates教授的研究小組在用低于禁帶寬度能量的光照射 CdS表面時 ,歷史性的di yi次獲得入射光波長與的譜圖 ,以此來確定表面態的能級 ,從而形成了譜這一新的研究測試手段。
主要應用:
半導體材料的光生電壓性能的測試分析,可開展光催化等方面的機理研究,應用于太陽能電池、光解水制氫等方面的研究,研究光生電荷的性質,如:光生電荷擴散方向;解析光生電荷屬性等。主要代表材料有TiO2、ZnO、CdS、GaAs、CdTe、CdSe等。
技術參數
1) 光電壓譜測量:zui小電壓>10nV;功能材料的光電性質,可開展光催化等方面的機理研究;
2) 光電流譜測量:zui小電流>10 pA;研究功能材料光電流性質,可應用于太陽能電池、光解水制氫等方面的研究;
3) 光伏相位譜分析:相檢測范圍:-180°至+180°;可用于研究光生電荷的性質,如:光生電荷擴散方向;解析光生電荷屬性等;
4) 、光電流、相位譜分析的光譜波長范圍:200-1600nm,可以全光譜連續掃描,光譜分辨率0.1nm,波長準確度±0.1nm;
5) 可以實現任意定波長下,不同強度光照下的、光電流、相位譜分析,實現光譜分析的多元化;
6) 光路設計一體化、所有光路均在暗室中或封閉光路中進行,無外界雜光干擾;