CAMTEK  自動光學檢驗AOI設備Fan-out

Camtek先進的校準和訴訟機制結合專用的檢驗和計量能力解決挑戰性的Fan-out

的過程。
我們的系統支持表面檢驗能力和*的計量信息死層之間結合位置對齊數據。
系統生成各種報告,增加產量和提高產量。

功能

•RDL檢查和計量
•檢查多層晶片
•多種光學設置所有步驟和缺陷類型
•3 d高度和co-planarity測量
•死位置測量

技術

•Camtek*的白光三角測量傳感器
•先進的缺陷檢測和計量處理引擎
•高分辨率三維共焦傳感器
•光干涉測量技術對3 d

產品

Eagle-AP

Eagle-AP提供2 d和3 d檢驗和計量在同一平臺上,同時保持*的性能和吞吐量水平。

Eagle-i

的2 d表面缺陷檢驗和計量系統,實現高容量生產前2 d檢查解決方案和post-bumped晶片,探針標記檢查,OQc等等。

EagleT-AP

為先進的包裝設計市場,EagleT-AP提供了2 d和3 d檢驗和計量在同一平臺上,同時保持*的性能和吞吐量水平。

EagleT-i

設計的速度和準確性,Camtek EagleT-i是一個最快的和的2 d檢查工具在市場上。