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當前位置：北京亞科晨旭科技有限公司>>表征檢測>>掃描電子顯微鏡>> S8000FE-SEM型超高分辨場發射掃描電鏡S8000FE-SEM
| 背散射電子圖像分辨率 | 0.9nm | 二次電子圖象分辨率 | 1.3nmnm |
|---|---|---|---|
| 放大倍數 | 2000000x | 加速電壓 | 30kV |
| 價格區間 | 250萬-300萬 | 儀器種類 | 場發射 |
| 應用領域 | 電子 |
S8000 系列（NEW ! ）
追求ji致性能！完成具挑戰性的納米分析工作。
TESCAN推出了全新yi代S8000系列掃描電鏡，目前包括：S8000型超高分辨場發射掃描電鏡和S8000G型鎵離子聚焦離子束雙束掃描電鏡。
全新設計的S8000超高分辨場發射掃描電鏡可以提供的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，能夠滿足現今工業研發和科研的所有需求，不僅適用于的納米分析應用，也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗。 S8000 FE-SEM的優點： 新yi代鏡筒內電子加速、減速技術，保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀測能力 *配置的靜電-電磁復合物鏡，物鏡無磁場外泄，實現磁性樣品高分辨成像及
S8000G是TESCAN新S8000系列掃描電鏡的第yi個新成員，是yi款超高分辨雙束FIB-SEM系統，它可以提供的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，并能以ji佳的精度、效率完成復雜的納米加工和操作，可滿足現今工業研發和學術界研究的所有需求。 S8000G FIB-SEM的優點： 新yi代鏡筒內電子加速、減速技術，保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀測能力 *配置的靜電-
S8000 系列（NEW ! ）
追求ji致性能！完成具挑戰性的納米分析工作。
TESCAN推出了全新yi代S8000系列掃描電鏡，目前包括：S8000型超高分辨場發射掃描電鏡和S8000G型鎵離子聚焦離子束雙束掃描電鏡。
全新設計的S8000超高分辨場發射掃描電鏡可以提供的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，能夠滿足現今工業研發和科研的所有需求，不僅適用于的納米分析應用，也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗。 S8000 FE-SEM的優點： 新yi代鏡筒內電子加速、減速技術，保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀測能力 *配置的靜電-電磁復合物鏡，物鏡無磁場外泄，實現磁性樣品高分辨成像及
S8000G是TESCAN新S8000系列掃描電鏡的第yi個新成員，是yi款超高分辨雙束FIB-SEM系統，它可以提供的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，并能以ji佳的精度、效率完成復雜的納米加工和操作，可滿足現今工業研發和學術界研究的所有需求。 S8000G FIB-SEM的優點： 新yi代鏡筒內電子加速、減速技術，保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀測能力 *配置的靜電-
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