涂層測(cè)厚儀儀器采用磁性測(cè)厚法,可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度,如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
MC-2000C涂層測(cè)厚儀覆層測(cè)厚儀價(jià)格應(yīng)用范圍
涂層測(cè)厚儀儀器采用磁性測(cè)厚法,可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度,如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
MC-2000C涂層測(cè)厚儀覆層測(cè)厚儀價(jià)格工作原理
MC-2000C型涂鍍層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭
產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂鍍層厚度。
MC-2000C涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)
輕松讀取:可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè),對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)。
二、MC-2000C涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品性能
1、測(cè)量范圍: 0~5000um
2、測(cè)量誤差: <3%±1um
3、zui小示值: 1um
4、顯示方式: 4位液晶數(shù)字顯示
5、主要功能:
(1).測(cè)量: 單探頭全量程測(cè)厚
(2).存儲(chǔ)、刪除: 可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè),對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。
(3).讀: 讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)
(4).統(tǒng)計(jì): 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量,平均值z(mì)ui大值z(mì)ui小值
(5).校準(zhǔn): 可進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)
(6).電量: 具有欠壓顯示功能
(7).打印: 可打印測(cè)量值,選配微型打印機(jī)
(8).關(guān)機(jī): 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法
6、電源: 兩節(jié)1.5v電池
7、功耗: zui大功耗100mw
8、外形盡寸: 51mm*126mm*27mm
9、重量: 160g(含電池)
10、使用環(huán)境溫度: 0℃~+40℃ 相對(duì)濕度:不大于90%
11、基體zui小厚度: 0.5mm
12、基體zui小平面的直徑: 7mm
13、zui小曲率半徑: 凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠電壓指示: 右上角顯示""
*臨界厚度小:工件鐵基厚度大于1mm時(shí),其涂(鍍)層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度
三、MC-2000C型涂層測(cè)厚儀配置單
MC-2000C說(shuō)明書(shū)下載
1、MC-2000C型涂鍍層測(cè)厚儀 一臺(tái)
2、七號(hào)電池 二節(jié)
3、探頭 一支
4、標(biāo)準(zhǔn)樣片 一盒
5、小鋁箱 一個(gè)
6、說(shuō)明書(shū)、合格證 一套
選配件:
1、打印機(jī)及通訊打印連線 1套
2、微機(jī)通訊軟件 1盤(pán)
- 內(nèi)防腐探頭
注意事項(xiàng):
(1)測(cè)量曲面及圓柱體,曲率半徑較小時(shí),應(yīng)在未涂覆的工件上校準(zhǔn),以保證測(cè)量精度。
(2)在曲率半徑較小的凹面內(nèi)測(cè)量時(shí),應(yīng)重新校正。
五、影響測(cè)量的若干因素:
基體金屬磁化:磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響,應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上 對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。
基體金屬厚度:每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度,大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
邊緣效應(yīng):本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感,因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
曲率:試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響,這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
表面粗糙度:基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí),在不同位置上增加測(cè)量的次數(shù),克服這種偶然誤差。
如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層,再校對(duì)儀器零點(diǎn)。
磁場(chǎng):周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測(cè)量厚度的工作。
附著物質(zhì):本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì),以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
探頭的放置:探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響,在測(cè)量中使探頭與試樣表面保持垂直。
試片的變形:探頭使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。
讀數(shù)次數(shù):通常儀器的每次讀數(shù)并不*相同。因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)測(cè)量值,覆蓋層厚度的局部差異,也要求在給定的面積內(nèi)進(jìn)行測(cè)量,表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。