本儀器采用磁性測(cè)厚法,可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度,如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、橡膠、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
MC-2000A油漆測(cè)厚儀價(jià)格涂層測(cè)厚儀應(yīng)用范圍
本儀器采用磁性測(cè)厚法,可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度,如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、橡膠、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
MC-2000A油漆測(cè)厚儀價(jià)格涂層測(cè)厚儀工作原理
MC-2000A型涂鍍層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂鍍層厚度。
輕松讀取
可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè),對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù), 讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)。
二、MC-2000A涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品性能
1、測(cè)量范圍: 0~1200um
2、測(cè)量誤差: <3%±1um
3、zui小示值: 1um
4、顯示方式: 4位液晶數(shù)字顯示
5、主要功能:
(1).測(cè)量: 單探頭全量程測(cè)厚
(2).存儲(chǔ)、刪除:
(3).統(tǒng)計(jì): 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量,平均值z(mì)ui大值z(mì)ui小值
(4).校準(zhǔn): 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)
(5).電量: 具有欠壓顯示功能
(6).蜂鳴提示:操作過(guò)程中有蜂鳴提示
(7).打?。?可打印測(cè)量值,選配微型打印機(jī)
(8).關(guān)機(jī): 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法
6、電源: 兩節(jié)1.5v電池
7、功耗: zui大功耗100mw
8、外形盡寸: 51mm*126mm*27mm
9、重量: 160g(含電池)
10、使用環(huán)境溫度: 0℃~+40℃ 相對(duì)濕度:不大于90%
11、基體zui小厚度: 0.5mm
12、基體zui小平面的直徑: 7mm
13、zui小曲率半徑: 凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠電壓指示: 右上角顯示""
*臨界厚度?。汗ぜF基厚度大于1mm時(shí),其涂(鍍)層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響。
三、MC-2000A型涂層測(cè)厚儀配置單
MC-2000A說(shuō)明書(shū)下載
1、MC-2000A型涂鍍層測(cè)厚儀 一臺(tái)
2、七號(hào)電池 二節(jié)
3、探頭 一支
4、標(biāo)準(zhǔn)樣片 一盒
5、小鋁箱 一個(gè)
6、說(shuō)明書(shū)、合格證 一套
選配件:
1、打印機(jī)及通訊打印連線 1套
2、微機(jī)通訊軟件 1盤(pán)
- 內(nèi)防腐探頭
關(guān)于基體的要求:
1.基體必須為磁性金屬,如鋼板、鎳、鐵等都是含磁金屬。
2.基體金屬的厚度: 每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。科電涂層測(cè)厚儀的臨界厚度值:工件鐵基厚度大于1mm時(shí),其涂(鍍)層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響。
關(guān)于MC-2000A油漆測(cè)厚儀價(jià)格涂層測(cè)厚儀測(cè)試工件的要求:
1.本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
2. 試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上zui小曲率要求半徑: 凸:1.5mm 凹:6mm
其他:
探頭在使用是主要保持垂直測(cè)量,這樣得出的示值才會(huì)穩(wěn)定,其他類(lèi)型測(cè)厚儀亦如此。
注意:由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。(此參考說(shuō)明書(shū)上檢測(cè)方法)