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EPMA-8050G電子探針顯微分析儀
“The Grand EPMA" 誕生 搭載zui*場發射電子光學系統 從SEM觀察條件到1μA量級,在各種束流條件下都擁有空間分辨率的*場發射電子光學系統。結合島津傳統的高性能X射線譜儀,將分析性能發揮至*。 當之無愧的“The Grand EPMA" ,zui高水準的EPMA誕生! |
超高分辨率面分析 對碳膜上Sn球放大3萬倍進行面分析。即使是SE圖像(左側)上直徑只有50nm左右的Sn顆粒,在X射線圖像(右側)上也是清晰可見。 | |
zui*技術實現 ■ 的空間分辨率 | ■ 大束流超高靈敏度分析 |
超高靈敏度面分析 使用1μA束流對不銹鋼進行5000倍的面分析。精確地捕捉到了Cr含量輕微不同形成的不同的相(左側),同時也成功地將含量不足0.1%的Mn分布呈現在我們眼前(右側)。 | |
1 高亮度肖特基發射體 2 EPMA電子光學系統 3 超高真空排氣系統 4 高靈敏度X射線譜儀 |
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