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SPM-9700掃描探針顯微鏡島津能夠提供鋼鐵、有色金屬、環境、食品、化工、制藥、半導體、陶瓷及高分子等眾多領域客戶,多種樣品分析所需要的種類繁多的分析儀器。電子探針（EPMA）分析對象從幾厘米到幾微米；X射線光電子能譜儀（XPS）分析對象從幾毫米到幾微米；掃描探針顯微鏡（SPM）觀察范圍從100微米到幾納米。

EPMA-1720 Series 電子探針高靈敏度 · 高精度 · 高分辨率「簡單?易懂的操作」

從軟件到硬件凝結了技術，鑄就了新一代EPMA。島津EPMA在保持了一貫的高靈敏度·高精度·高分辨率的基礎上，又新增了簡單·易懂的操作性能，將電子探針功能發揮至*。既可滿足初學者簡易操作的需求，又能適合專家級的科研分析。

EPMA-1720 Series 電子探針*設計的X射線分光器可以實現高靈敏度·高精度分析

X射線取出角決定分析性能，52.5°高取出角更勝*

		圖為小孔穴中異物的分析實例。左下圖為鐵（Fe）、右下圖為鈦（Ti）的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角，對表面凹凸明顯的樣品也能進行高精度分析。