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從毫米到納米的超大范圍觀察和測量自由切換多種顯微鏡觀察模式
OLYMPUS LEXT OLS4500是結合了傳統光學顯微鏡、激光掃描顯微鏡（LSM）以及掃描探針顯微鏡（SPM）功能的一體機。LEXT OLS4500可以滿足不同樣品的觀測需求，是一臺新時代的觀察、測量裝置。
LEXT OLS4500可以輕松實現從毫米到納米的觀察和測量，放大倍率由幾十倍到高達百萬倍。找到觀測目標（觀察對象）后，您可以在光學顯微鏡模式、激光顯微鏡模式和探針顯微鏡模式之間自由切換，而不用擔心目標丟失。并且您可以使用探針顯微鏡迅速而正確的完成觀察，大大縮短了獲取影像的時間。這些便是OLS4500一體機的自由操作帶給您的益處。
更加方便、更加順利地完成超大范圍觀察和測量。
實現了自由切換操作的LEXT OLS4500，閃亮登場。
OLS4500 納米檢測顯微
| ? 光學顯微鏡的原理和特長 | ? 激光顯微鏡的原理和特長 | ? 探針顯微鏡的原理和特長 |
? OLS4500 納米檢測顯微光學顯微鏡的原理和特長
光學顯微鏡是從樣品上方照射可見光（波長約400nm~800nm），利用其反射光成像，能夠放大樣品數十倍到一千倍左右進行觀察。光學顯微鏡的特長是可以真實觀察彩色樣品，還可以切換觀察方法，強調樣品表面的凹凸，利用物質特性（偏光性）進行觀察。OLS4500上可以使用下述觀察方法。
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明視場觀察 可以獲取顏色信息。 | ||||||
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? OLS4500 納米檢測顯微激光顯微鏡的原理和特長
可進行亞微米級觀察和測量的激光顯微鏡（LSM: Laser Scanning Microscope)
光學顯微鏡的平面分辨率很大程度取決于光的光子和波長，采用短波長的激光顯微鏡（LSM） 比采用可見光的傳統顯微鏡，擁有更高的平面分辨率。 LEXT OLS4500采用405nm的短波長半導體激光、高數值孔徑的物鏡、以及*的共焦光學系統，可以達到0.12μm的平面分辨率。此外，OLS4500配有奧林巴斯*的掃描加掃描型2D掃描儀，可以實現高達4096×4096像素的高精度XY掃描。 |  |
的Z軸測量
| 激光顯微鏡采用短波長半導體激光和*的雙共焦光學系統，會刪除未聚焦區域的信號，只將聚焦范圍內的反射光檢測為同一高度。同時結合高精度的光柵讀取能力，可以生成高畫質的影像，實現精確的3D測量。 |
高度測量(微透鏡) |
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? 探針顯微鏡的原理和特長
可以觀察納米級微觀世界的探針顯微鏡(SPM: Scanning Probe Microscope)
| 探針顯微鏡（SPM）是通過機械式地用探針在樣品表面移動，檢測出探針與樣品之間產生的力、電的相互作用，同時進行掃描，從而得到樣品影像。探針*曲率半徑為10nm左右。典型的探針顯微鏡是原子力顯微鏡（AFM：Atomic Force Microscope），它通過檢測探針和樣品表面之間作用的引力和張力進行掃描并獲得影像。探針顯微鏡能夠觀察納米級微觀形貌，可以捕捉到樣品zui精細的一面。 |
探針顯微鏡的原理 |
通過微懸臂掃描進行納米級觀察 OLS4500上采用了光杠桿法——通過高靈敏度檢測出zui前端裝有探針的微懸臂的微小彎曲量（位移）來進行觀測的方法。在懸臂的背面反射激光，并用壓電元件驅動Z軸，使激光照射到光電檢測器的位置，從而正確讀取Z方向的微小位移。 |  SPM傳感器光路圖 | ||||||||||||||||||
多種觀察模式在影像中呈現表面形狀和物性 探針顯微鏡擁有多種觀察模式，可以觀察、測量樣品表面的形狀，還可以進行物性分析。OLS4500配有以下模式。
*該模式為選項功能。 |
高分子薄膜 |
決定高精細度、高質量影像的微懸臂
探針位于長度約100μm~200μm的薄片狀微懸臂的前端。您可以根據樣品選擇不同的彈簧常數、共振頻率。反復掃描會磨損探針，所以請根據需要定期更換微懸探針。
