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研究級共聚焦顯微系統(tǒng)
usurf expert是一套*為測試以及實驗設備的開發(fā)而優(yōu)化的系統(tǒng)，滿足非接觸性測量行業(yè)內(nèi)Z高的要求。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
研究級共聚焦顯微系統(tǒng)
usurf expert是一套*為測試以及實驗設備的開發(fā)而優(yōu)化的系統(tǒng)，滿足非接觸性測量行業(yè)內(nèi)zui高的要求。
測量系統(tǒng)配備有高精度的傳感器，與位于x,y,z軸向的線性編碼器以及諸多的自動化選項，usurf expert提供zui高級別的操作舒適感，這一切都歸功于手動的z軸調(diào)節(jié)以及的人體工學設計。
客戶可自由切換選擇 用戶主導模式或是全自動選項，此項功能在zui簡潔的操作中保證了測量的質(zhì)量與精度。
光學三維表面檢測的新標準
根據(jù)usurf expert測定原理可以檢測粗糙度，幾何形狀，平整度，磨損度，軸承比率和進一步的參數(shù)可以按照標準例如ISO25178和ISO4287測定。觸覺計量學相比，三維測量的表面結(jié)構(gòu)提供了定量的信息使人們有可能獲得更多的有意義的結(jié)果。與此同時，具有高焦深的顯微圖像生成*的文檔。
超細粗糙結(jié)構(gòu)的輪廓精確地再現(xiàn)代表了NanoFocus開發(fā)的核心質(zhì)量標準共焦測量技術。這是應用程序的測試實驗室和質(zhì)量控制測量設備的必要前提。
自動化包括的幾個選項
樣品自動測量與分析通過成千上萬編程系列測量，NanoFocus提供高性能存入數(shù)據(jù)庫軟件，它允許靈活的編程進行測量和評估策略。
研究級共聚焦顯微系統(tǒng)應用實例
在測試和開發(fā)實驗室，一個范圍廣泛的材料，其獨立的表面性質(zhì)，可以用usurf expert靈活的共聚焦3D顯微鏡測量。隨著自動測量和分析功能，共聚焦顯微鏡也適合于在眾多的測量任務過程中的質(zhì)量保證。