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島津UV-VIS-NIR分光光度計

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  • 型號 島津UV-VIS-NIR
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 廈門市
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更新時間:2023-11-11 09:57:58瀏覽次數(shù):2526

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產(chǎn)品簡介

適用于光學(xué)、半導(dǎo)體及FPD應(yīng)用—島津UV-VIS-NIR分光光度計

是一款*的高靈敏度分光光度計,可進行深紫外區(qū)檢測,具備大樣品室,可滿足光學(xué)、半導(dǎo)體及FPD在以下方面的檢測需求。
FPD:
材料評估中NIR和大樣品的高靈敏度測定。
半導(dǎo)體:
短波長激光和12英寸晶片整體表面的深紫外區(qū)測定。
光通信:
減反射膜NIR高靈敏度測定。
光學(xué):
從DUV到NIR再到大樣品的高靈敏度分析。

詳細介紹

光學(xué)組件需要對透光率及反射率進行高精度測定。SolidSpec-3700/37000DUV擁有三個檢測器,覆蓋的范圍從紫外區(qū)到近紅外區(qū)。通過使用InGaAs和冷卻型PbS檢測器提高近紅外區(qū)的靈敏度。從而得到從紫外區(qū)到近紅外區(qū)高精度和高靈敏度光譜。

傳統(tǒng)的分光光度計使用一個光電倍增管對紫外和可見區(qū)域進行檢測。但所有檢測器在檢測器轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)靈敏度較低,因此在此范圍檢測時無法實現(xiàn)高靈敏度測定。 SolidSpec-3700/3700DUV通過使用InGaAs檢測器可在轉(zhuǎn)換領(lǐng)域內(nèi)進行高靈敏度檢測。

高靈敏度檢測

InGaAs檢測器和PbS 檢測器測定銳截止濾光片透過率的譜圖如下圖所示:SolidSpec-3700/3700DUV從850至1600nm范圍內(nèi)實現(xiàn)了低噪音水平,與傳統(tǒng)的分光光度計相比,1300至1600nm范圍內(nèi),噪聲減少了四分之一。

SolidSpec-3700/3700DUV在1300-1500nm,在透過率小于1%的前提下,噪聲水平小于0.1%。此波長范圍的高靈敏度分析使SolidSpec-3700/3700DUV成為檢測低反射樣品的強有力工具,如在光傳輸中使用的防反射涂層及薄膜。

1500nm處的噪聲為世界*水平,小于0.00005Abs(狹縫寬度8nm,RMS),刪除使用直接受光單元DDU/DDU-DUV.小于0.00003Abs(狹縫寬度2nm,RMS)

隨著以ArF激發(fā)激光為代表的使用深紫外激光的高精度激光儀器的發(fā)展,提高了對光學(xué)材料深紫外區(qū)透過率和反射率的測定要求。

SolidSpec-3700DUV使用積分球時可在175nm-2600nm的范圍測定,而使用選配件直接受光單元DDU-DUV時可在165nm-3300nm的范圍測定。

使用此附件,可實現(xiàn)從深紫外區(qū)到近紅外區(qū)寬范圍的測定。

空氣中的氧分子會吸收190nm以下的深紫外光,需要使用氮氣吹掃光室和樣品室以除去氧分子的干擾。SolidSpec-3700DUV各單元都設(shè)有吹掃入口,可進行充分的氮氣吹掃,以實現(xiàn)深紫外區(qū)的高靈敏度和低雜散光。

為進行深紫外區(qū)的測定,檢測器的窗口和積分球內(nèi)壁均使用不吸收深紫外光的材料,SolidSpec-3700DUV的PMT檢測器使用特制熔融石英作為窗口材料,積分球內(nèi)壁使用深紫外區(qū)具有高反射性能的特殊樹脂。

深紫外區(qū)高靈敏度和低雜散光測定

深紫外區(qū)的高精度測定要求充足光通量和低雜散光。
右圖是使用直接受光單元DDU-DUV(選配)測定石英板的透過率光譜。
在紫外區(qū)域可得到超低噪聲的光譜。

SolidSpec-3700/3700DUV配有大樣品室,可使大樣品進行無損檢測。其內(nèi)部尺寸為900W x 700D x 350H。
可測定的zui大樣品尺寸700W x 560D x 40H mm。樣品尺寸為12英寸或310 x 310 mm的樣品可用自動X-Y樣品臺(選配)
使用X-Y樣品臺的大樣品室

使用X-Y樣品臺測定12英寸硅片

自動檢測

為SolidSpec-3700/3700DUV研發(fā)的自動X-Y樣品臺可對提前點進行自動檢測,同時又可進行氮氣吹掃。

12英寸硅片上SiO2薄膜的反射光譜

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