產(chǎn)品綜述：

數(shù)字集成電路測(cè)試功能模塊（ABI-6400）

在BM-8400中提供了1個(gè)數(shù)字集成電路功能測(cè)試模塊,其具有64個(gè)量測(cè)通道,可提供多種的量測(cè)功能.這些通道可提供全面性故障診斷能力,包括數(shù)字集成電路功能測(cè)試（在線/離線測(cè)試）,集成電路接腳的連接狀態(tài)和電壓值的量測(cè),并連同在無(wú)電源供給的情形下使用的VI曲線的測(cè)試功能.

數(shù)字集成電路測(cè)試的高級(jí)測(cè)試模塊（ABI-6500）

該模塊是ABI-6400模塊的升級(jí)產(chǎn)品,是數(shù)字集成電路測(cè)試的高級(jí)測(cè)試模塊,系統(tǒng)提供信息更全面,更準(zhǔn)確.測(cè)試條件更豐富,仿真測(cè)試輸入條件電壓電流可以根據(jù)需要-10V~+10V之間自己定義,檢測(cè)輸出的電平也可以自己定義.ATM模塊可以更好的檢測(cè)測(cè)試庫(kù)以外的元器件,實(shí)現(xiàn)電路板仿真測(cè)試更加方便快捷.
 

模擬集成電路測(cè)試功能模塊（ABI-2400/2500）
 

在模擬集成電路測(cè)試儀中允許模擬集成電路和分立集成電路進(jìn)行功能測(cè)試.所有常見(jiàn)的模擬集成電路皆可以測(cè)試,系統(tǒng)會(huì)依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)來(lái)作功能測(cè)試,不需要編輯程序或參考電路圖.在該模塊中還包括了完整的V-I曲線測(cè)試功能,電路板或集成電路可在無(wú)電源供給的情形下,得到清楚易懂的圖形化測(cè)試結(jié)果.

綜合型基礎(chǔ)儀表模塊（ABI-6300）
 

在ABI-6300儀表模塊中,提供了多種高規(guī)格的測(cè)試及量測(cè)用的儀表功能在同一模塊之中.此種設(shè)計(jì)方式,適合用于教育及一般用途的電子量測(cè)使用.其模塊提供了頻率/事件計(jì)數(shù)器,數(shù)字存儲(chǔ)式示波器,信號(hào)產(chǎn)生器,雙信道的數(shù)字電表,固定式電源供應(yīng)器及通用型的I/O接口.且操作者可以利用軟件的自定儀器平臺(tái)功能,來(lái)設(shè)計(jì)客制化的儀器操作接口.
 

數(shù)字可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊（ABI-1100）
 

此模塊可提供集成電路或電路板在進(jìn)行測(cè)試時(shí)所必要的電源.其具有三組可調(diào)式電源輸出,并同時(shí)具有過(guò)電壓及過(guò)載保護(hù)功能.
 

主要功能

Digital IC Test 數(shù)字集成電路測(cè)試功能

具64個(gè)量測(cè)通道 （64通道X1組模塊）.八組輸出隔離信號(hào).一組5V /5A的電源輸出.可進(jìn)行集成電路的功能測(cè)試、電壓測(cè)量、接腳連接測(cè)試、溫度指數(shù)及V-I曲線量測(cè).內(nèi)建邏輯時(shí)序信號(hào)測(cè)量功能、EPROM 數(shù)據(jù)比對(duì)功能、數(shù)字集成電路搜尋功能等.并可針對(duì)數(shù)字邏輯位準(zhǔn)進(jìn)行調(diào)整,另外可自動(dòng)定位集成電路接腳及電路狀態(tài)比對(duì)功能.

Analogue IC Test 模擬集成電路測(cè)試功能

具有24組測(cè)試通道及外加一組的分離集成電路測(cè)試信道.內(nèi)建集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)可測(cè)量模擬放大器、比較器、光耦合器、晶體管、二極管及特殊功能的集成電路.可針對(duì)模擬集成電路進(jìn)行功能測(cè)、連接狀態(tài)測(cè)試及電壓測(cè)量.并具有自動(dòng)定位集成電路接腳及電路狀比對(duì)功能.

Digital V-I Test 數(shù)字式V-I曲線測(cè)試功能

具128量測(cè)通道（64通道X2個(gè)模塊）.可調(diào)整測(cè)量信號(hào)電壓范圍.針對(duì)數(shù)字集成電路可達(dá)到有效的測(cè)量結(jié)果.

Analogue V-I Test 模擬式V-I曲線測(cè)試功能

具有24量測(cè)通道及外加二組獨(dú)立測(cè)量通道.其具有可調(diào)頻率、可調(diào)電壓、可調(diào)輸出阻抗及選擇測(cè)量波形功能.并可選擇波形顯示模式:V-I、V-T及I-T三種顯示模式.二組同步可變脈寬的信號(hào)輸出.內(nèi)建測(cè)量線路補(bǔ)償功能.具有外接盒可供選配.

Matrix V-I 矩陣式V-I測(cè)試功能

具有24組矩陣式的測(cè)量通道.單一波形多重顯示的方式，并可直接進(jìn)行測(cè)量波形的比對(duì)功能,并以條狀圖的方式來(lái)顯示各通道信號(hào)的差異百分比.

Graphical Test Generator 數(shù)字時(shí)序編輯功能

具有64個(gè)信號(hào)通道可供編輯數(shù)字時(shí)序信號(hào),每個(gè)通道可設(shè)定輸出、輸入及雙向狀態(tài).并可讀取數(shù)字向量信號(hào)、并且儲(chǔ)存之后再進(jìn)行比對(duì).

Floating Digital Multimeter雙通道萬(wàn)用電表功能

具二組自動(dòng)換文件的測(cè)量通道,可測(cè)量DC及AC電壓信號(hào)達(dá)400V,可測(cè)量DC及AC電流信號(hào)可達(dá)2A.阻抗測(cè)量可達(dá)20M歐姆,各信道具有統(tǒng)計(jì)功能,可顯示zui大值、zui小值及平均值.另外提供一組計(jì)算器,可針對(duì)所測(cè)量到的數(shù)值進(jìn)行實(shí)時(shí)的計(jì)算并記錄.

Universal I/O 通用型輸出/輸入通道功能

具有四組模擬信號(hào)通道及四組數(shù)字信號(hào)通道.模擬信號(hào)通道可設(shè)定成為電壓輸出、電壓量測(cè)、電流輸出及電流測(cè)量四種工作模式.其電壓范圍為-9V to +9V,而電流范圍可達(dá)20mA.數(shù)字信號(hào)通道可設(shè)定為輸出邏輯HIGH、邏輯LOW或是偵測(cè)目前通道的信號(hào)邏輯狀態(tài),其輸出及輸入能力是以TTL位準(zhǔn)為標(biāo)準(zhǔn).

Short Locator 短路電阻測(cè)量功能

具有三段低電阻測(cè)量范圍,可以圖示及聲音來(lái)判斷目前短路的位置.

Auxiliary Power Supply 固定型電源輸出功能

具三組固定式的電源輸出,分別為:5V/0.5A輸出,+9V/ 100mA輸出及-9V/100mA輸出.各信道都具有電流值監(jiān)測(cè)功能.

Variable Power Supply 可調(diào)型電源輸出功能

邏輯電源輸出的可調(diào)電壓范圍為2.5V到6V并具有過(guò)電壓跳脫功能.另外有可調(diào)式的正負(fù)電源輸出,其可電壓可調(diào)范圍為-24V到+24V.其輸出電流能力可達(dá)1A.

模塊介紹

英國(guó)ABI-6400/ABI-6500數(shù)字集成電路測(cè)試模塊（ABI-6400和ABI-6500任選其一）

英國(guó)ABI-6400數(shù)字集成電路測(cè)試模塊

英國(guó)ABI-6500數(shù)字集成電路測(cè)試模塊

主要功能:

64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試
64通道V-I曲線模擬通道測(cè)試（可測(cè)模擬器件）
強(qiáng)大的元器件和整板仿真測(cè)試功能
閾值電平零界點(diǎn)掃描測(cè)試
短路追蹤測(cè)試（低電阻測(cè)試）
實(shí)時(shí)顯示輸出邏輯電平值
存儲(chǔ)器功能測(cè)試
數(shù)字時(shí)序編輯功能
未知器件型號(hào)查詢
程控電源供電

測(cè)試準(zhǔn)確-源自*的測(cè)試技術(shù)

同一器件同一時(shí)間完成多種測(cè)試:功能測(cè)試,V-I曲線測(cè)試,溫度拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)試,連接狀態(tài)測(cè)試,管腳電壓測(cè)試等.
圖形化元件測(cè)試庫(kù)的編輯,輸入輸出各個(gè)測(cè)試通道的邏輯時(shí)序可以由測(cè)試者圖形化自定義編輯測(cè)試完成,方便快捷的建立起測(cè)試庫(kù)中沒(méi)有的元件庫(kù).
整板測(cè)試非常簡(jiǎn)單,通過(guò)圖形化的測(cè)試庫(kù)編輯器,根據(jù)電路板原理,定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào),快速建立板測(cè)試庫(kù),快速批量檢測(cè)電路板的功能.
邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的故障元器件.
邏輯電平閾值自定義.可以設(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值,檢查不穩(wěn)定的元器件.
短路電阻測(cè)量功能:三段低電阻測(cè)量范圍,可以用圖像及聲音的變化來(lái)表示電阻值大小,此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,及檢查短路點(diǎn).
輸出邏輯時(shí)序圖形顯示,具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體測(cè)試信息.
V-I曲線測(cè)試功能:可針對(duì)元器件直接進(jìn)行測(cè)試,曲線電壓掃描范圍:-10v~+10v;測(cè)試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,可調(diào)整為非對(duì)稱電壓掃描信號(hào),正負(fù)電壓可以不*,例如:-2.5v~+10v zui大限度地保證測(cè)試的安全性.其輸出電流由系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整設(shè)定.掃描信號(hào)可達(dá)幾十種.
V-I曲線溫漂拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)定,可以觀測(cè)曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù),易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障.方便找出不穩(wěn)定器件.
系統(tǒng)可以在64路的基礎(chǔ)上以64通道為單位進(jìn)行通道擴(kuò)充,直至256通道.6500可以擴(kuò)充到2048路.

產(chǎn)品特征:

中英文測(cè)試軟件,USB接口.
數(shù)字測(cè)試通道:64路（可擴(kuò)充到256通道）.
模擬測(cè)試通道64路（可擴(kuò)充到256通道）.
1路v-i探棒測(cè)試隔離通道:4路.總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能:用于解除總線競(jìng)爭(zhēng),確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373,74LS245,等）,可提供4路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào),6500可提供8路隔離信號(hào).
能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測(cè)試;測(cè)試庫(kù)達(dá)上萬(wàn)種元器件,可以通過(guò)圖像化的編輯器自定義測(cè)試庫(kù),可以快速擴(kuò)充測(cè)試庫(kù)配有離線測(cè)試盒,快速測(cè)試批量元器件.離線測(cè)試和在線測(cè)試功能**.
IC型號(hào)識(shí)別:標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件,可"在線"或"離線"進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試.
讀寫(xiě)存儲(chǔ)器功能測(cè)試5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過(guò)電壓及過(guò)電流保護(hù)功能.由系統(tǒng)自動(dòng)控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時(shí)間.方便各種類(lèi)型電路板的測(cè)試。
數(shù)字集成電路測(cè)試中集電極開(kāi)路，自動(dòng)上加上拉電阻。
V-I曲線測(cè)試具有單通道探筆測(cè)試功能，方便分立器件的V-I曲線測(cè)試LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測(cè)試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見(jiàn)的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測(cè)試。

數(shù)字集成電路測(cè)試參數(shù)規(guī)格：

電源供給規(guī)格參數(shù)：

英國(guó)ABI-6400與ABI-6500參數(shù)主要區(qū)別:

英國(guó)ABI-2400/ABI-2500模擬集成電路測(cè)試模塊

特點(diǎn):

含模擬器件測(cè)試庫(kù),可以直接對(duì)模擬器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)試.
測(cè)量通道數(shù):24個(gè)獨(dú)立測(cè)試通道
驅(qū)動(dòng)輸出電壓:-12V~+12V
驅(qū)動(dòng)輸出電流:200mA
可測(cè)量輸入電壓:±24V
輸入阻抗:大于1MΩ
IC測(cè)試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
IC測(cè)試方式:在線測(cè)試,若工作在OPA工作在線性區(qū), 則可自動(dòng)計(jì)算出放大率（Av）
晶體管測(cè)試種類(lèi):晶體管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件測(cè)量通道可輕易的讓使用者完成分立元器件的測(cè)量工作,其內(nèi)部提供了許多測(cè)量方式,可讓使用者用于許多類(lèi)型的分立元器件測(cè)試,包含功率型或高增益的分立元器件等.

特點(diǎn):

適合模擬及數(shù)字集成電路的測(cè)試.
可進(jìn)行在線或離線測(cè)試與分析.
具有24路測(cè)試通道.
安全性高的無(wú)電源測(cè)量方式.
矩陣式V-I曲線測(cè)試,可針對(duì)管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測(cè)試.
在進(jìn)行離線測(cè)試時(shí),可針對(duì)芯片內(nèi)部進(jìn)行阻抗分析.
自動(dòng)對(duì)比及儲(chǔ)存曲線.
可切換VI,VT及IT三種顯示模式,可配合不同功能型式的FET元器件.
可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試.
可進(jìn)行光電耦合器及繼電器元器件的速度功能測(cè)試.
具有二組信號(hào)源,可輸出直流信號(hào),針對(duì)光電耦合器及繼電器進(jìn)行穩(wěn)態(tài)測(cè)試.
并且顯示相似度百分比,具有業(yè)界中zui多的信號(hào)頻率文件位,對(duì)于故障的查找有相當(dāng)大的幫助.
測(cè)試頻率高達(dá)到12kHz,非常適合測(cè)試電感及高頻電容器件.
本系統(tǒng)具備自動(dòng)信號(hào)補(bǔ)償功能,可針對(duì)測(cè)試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測(cè)試,以防止量測(cè)信號(hào)失真.
可由軟件來(lái)進(jìn)行維修日志的編寫(xiě).
可由軟件加入圖片,用來(lái)清楚的表示量測(cè)位置及電路板樣式.
可選擇利用USB或PCI通訊接口來(lái)進(jìn)行儀器的操作,也可安裝在PC內(nèi)來(lái)節(jié)省所占的空間.

測(cè)試參數(shù)：

功能強(qiáng)大的2500

含模擬器件測(cè)試庫(kù),可以直接對(duì)模擬器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)試.
測(cè)量通道數(shù):24個(gè)獨(dú)立測(cè)試通道
驅(qū)動(dòng)輸出電壓:-12V~+12V
驅(qū)動(dòng)輸出電流:200mA
可測(cè)量輸入電壓:±24V
輸入阻抗:大于1MΩ
IC測(cè)試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
IC測(cè)試方式:在線測(cè)試,若工作在OPA工作在線性區(qū), 則可自動(dòng)計(jì)算出放大率（Av）
晶體管測(cè)試種類(lèi):晶體管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件測(cè)量通道可輕易的讓使用者完成分立元器件的測(cè)量工作,其內(nèi)部提供了許多測(cè)量方式,可讓使用者用于許多類(lèi)型的分立元器件測(cè)試,包含功率型或高增益的分立元器件等.

6300多功能儀表模塊

1.數(shù)字存儲(chǔ)示波器

2.信號(hào)發(fā)生器

3.通用型接口通道

4.數(shù)字隔離雙通道萬(wàn)用表

5.頻率計(jì)/事件計(jì)數(shù)器

6.電源輸出

1100可調(diào)電源模塊

電源輸出可由軟件控制

可調(diào)式邏輯電壓通道
可調(diào)整2.5V至6V的電壓
zui小電壓（流）調(diào)整解析:0.01V & 0.01A
可調(diào)式正電壓通道
可調(diào)整電壓:0～+24V 電流范圍:50mA～1.5A
zui小電壓（流）調(diào)整解析度:0.01V & 0.01A
可調(diào)式負(fù)電壓通道
可調(diào)整電壓:0～-24V 電流范圍:50mA～1.5A
zui小電壓（流）調(diào)整解析度:0.01V & 0.01A