概述：
美國Hinds Instruments的Exicor®雙折射測量技術于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術，具生產價值的測量雙折射的能力。
Exicor系統的高靈敏度是美國Hinds Instruments的PEMLabs™技術的產品，該技術推出了超低雙折射光彈性調制器(PEM)。PEM的調制純度增強了Exicor的靈敏度，這是調制器的諧振特性的結果。 PEM的調制頻率為50 kHz，提供快速測量功能。
雙檢測器光學系統的設計與PEM科學相結合，提供了一個重要特性：光學系統中沒有移動部件。 移動部件的缺失產生高機械可靠性以及測量的可重復性，并允許同時測量幅度和角度。
Exicor測量通過正在研究的光學樣品沿著光路積分的延遲。 它旨在測量并顯示延遲軸的大小和方向。
此設計減了光學系統中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換的重復性。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM調制。 調制后的光束通過樣品傳輸并分配一個分光鏡。 每束光束通過分析儀、光學濾光片和光電探測器的組合。 電子信號通過一個鎖定放大器處理，提供非常低的信號檢測。
由Hinds儀器公司開發的軟件算法將來自電子模塊的信號電平轉換為可以確定線性雙折射的參數。
計算機從兩個輸入中選擇，允許從兩個信號通道進行連續測量。 分析數據，然后顯示延遲大小和軸角度并存儲在文件中。 當在自動映射模式下操作時，x-y平移階段將把樣本移動到下一個預定的測量位置。 結果以用戶確認的格式即時顯示。
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