目錄:北京中顯恒業儀器儀表有限公司>>澤攸科技電子顯微鏡>>探針臺及低溫系統>> 室溫半自動探針臺 TZ-H-06
產品描述
室溫半自動探針臺，高可靠性探針臺系統，主要應用在半導體/微電子， 電子，機電，物理，化學，材料，光電，納米，微機電/MEMs，生物芯片，航空航天等科學研究領域，以及IC設計/制造/測試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生產制造領域。
旨在預算與高測量可靠性之間尋求平衡點，該平臺配備高精度位移臺，可實現X、Y、Z、 R等方向自動調整，各移動軸可實現±0.005mm以下的精度定位，對陣列型測量特征可實現快速準確的測量。經濟實用，穩定性強，可升級擴展，操作方便是本產品的核心價值，在各大高校、研究所及半導體行業應用廣泛。
△ 標配4個探針臂，可提供4-8個探針臂。調節范圍50mm*50mm*30mm，調節精度優于5um。每個探針臂配備一根Triax三同軸低漏電線纜及探針。樣品臺底座配備額外一根Triax三同軸低漏電線纜；
△ 顯微鏡模塊：連續變倍單筒顯微鏡，光學放大倍率：0.5X~5.0X（使用1X附加物鏡時）， 視頻放大倍率約700倍。可選2X附加物鏡。分辨率優于2um。全高清數字攝像頭，帶同軸照明和環形照明，帶機械調焦和光學調焦；
△ 樣品座采用電機驅動，可實現快速于目鏡下尋找樣品，調節范圍：100mm*100mm*15mm*±180°。
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