K2 調(diào)溫儀同屬KIC功能型測(cè)試儀系列，在設(shè)計(jì)上保持了一貫的緊湊、堅(jiān)固及精準(zhǔn)測(cè)量，可以在惡劣環(huán)境中進(jìn)行作業(yè)。即插即用的硬件設(shè)計(jì)和人性化的操作界面使得該款測(cè)溫儀簡(jiǎn)單易用。
新一代調(diào)溫型測(cè)試儀， K2 的上市將全面取代KIC2000 型測(cè)溫儀在市場(chǎng)上的銷售。
1、新一代調(diào)整溫型測(cè)試儀用于替代老版本系列。
2、*的性價(jià)比。
kic爐溫曲線測(cè)試儀體積小、耐用的硬件結(jié)構(gòu)：
1、適合各種無鉛的過爐條件要求。。
2、7通道k2尺寸：
| 隔熱套： | 206x60x17(mm)
302x75x23(mm) |
3、9通道k2尺寸：
| 隔熱套： | 206x75x23(mm)
312x90x23(mm) |
4、耐用的硬件、兼容各種測(cè)試條件。
防呆與智能的技術(shù)
自動(dòng)審查與分析溫度曲線
電腦和移動(dòng)終端，雙向獲取溫度數(shù)據(jù)技術(shù)(可選）：
瀏覽溫度數(shù)據(jù)的方法:
- · 安裝測(cè)試程序的電腦。
- · 授權(quán)的安卓移動(dòng)終端設(shè)備。
- · 具有共享選定曲線數(shù)據(jù)的功能
The Process Window Index
統(tǒng)計(jì)學(xué)的原理，表示溫度曲線的合格率：
PWI即工藝窗口指數(shù)，利用統(tǒng)計(jì)學(xué)的原理，對(duì)每個(gè)獨(dú)立測(cè)試點(diǎn)，結(jié)合工藝窗口進(jìn)行判定后，再比對(duì)其它測(cè)試點(diǎn)的zui大差異值，并依次進(jìn)行排序，PWI值越低，表示工藝越中心。（詳見PWI詳細(xì)介紹）
K2主要技術(shù)參數(shù):
| 系統(tǒng)精度: | ±0.5C |
| 解析度: | 0.1C |
| 內(nèi)部操作溫度: | 0C to 85C |
| 采樣頻率: | 0.1 to 10 per second |
| 數(shù)據(jù)點(diǎn): | 224,640 |
| PC 連接: | USB 2.0 (Std-A/Mini-B) |
| 電源要求: | (3) AAA batteries |
| 溫度范圍: | -150 to 1050 |
熱電偶兼容性:
7, 9-通道: | Type K, Standard |
尺寸:
7-通道:
9-通道: | (L x W x H mm)
206.0 x 60.0 x 17.0
206.0 x 75.0 x 17.0 |
| 隔熱套: | 參見以下隔熱套耐溫參數(shù)表中的規(guī)格 |
| 配置 | 尺寸 (mm)
(長(zhǎng)×寬×高) | 150C | 200C | 250C | 300C | 350C | 400C |
| 防燙不繡鋼隔熱套,7通道 | 302.0 x 75.0 x 23.0 | 17.5 | 12.0 | 9.0 | 7.7 | 6.5 | |
| 防燙不繡鋼隔熱套,9通道 | 312.0 x 90.0 x 23.0 | 18.1 | 13.1 | 10.1 | 8.4 | 6.7 | |
| HT shield 400 | 298.0 x 106.0 x 29.0 | 24.9 | 17.6 | 14 | 11.5 | 10.1 | 9.2 |
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