Bruker D6 x射線衍射儀 參考價：面議
bruker D6 PHASER是一個開創性的臺式X射線衍射平臺，它兼具可操作性與靈活性。與傳統臺式衍射儀不同的是，D6 PHASER提供了超越粉末衍射的優良分...
布魯克bruker輪廓儀 參考價：面議
布魯克bruker輪廓儀 利用*的直接驅動掃描樣品臺，將測量時間加快 40%，同時保持行業的性能。Vision64 是布魯克的 64 位并行處理操作和分析軟件，...
Bruker VERTEX 80/80v 傅立葉紅外光譜儀 參考價：面議
bruker VERTEX 80/80v 傅立葉變換紅外光譜儀VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動準直的 UltraScan&tr...
Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE 參考價：面議
Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE——用于幾乎所有先進薄膜或產品晶片測量的先進多模計量FilmTek™ 2000標準桿數-SE...
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200 參考價：面議
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200融合了高級表征、可定制選項和易用性，可提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。該設備作為可用于...
布魯克納米壓痕Hysitron TI 980 參考價：面議
布魯克納米壓痕Hysitron TI 980同時具有靈活性、可靠性、可用性和速度。這臺行業系統以數十年的 Hysitron 技術創新為基礎，在納米力學特性測試方...
bruker布魯克摩擦磨損試驗機UMT TriboLab 參考價：面議
布魯克通用機械測試儀 （UMT） 平臺自 2000 年推出型號以來，一直是市場上功能全、使用廣泛的摩擦儀。現在，新設計的bruker布魯克摩擦磨損試驗機UMT ...
Bruker布魯克納米壓痕儀劃痕儀PI 89 參考價：面議
Bruker布魯克納米壓痕儀劃痕儀PI 89利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時進行定量納米力學測試。這套全新系統搭載 Br...
bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3 參考價：面議
bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3，是一款基于原子力顯微鏡（AFM）的納米表征工具。其采用光熱誘導共振技術（PTIR，也稱AFM-IR），使紅外光譜的...
布魯克BRUKER納米壓痕儀 參考價：面議
布魯克BRUKER納米壓痕儀TS 77 Select精選是自動化臺式納米力學和納米摩擦測試系統，可提供同類儀器的性能、多功能和易用性。這種新型測試系統以布魯克的...
NCHV-A探針 bruker 原子力顯微鏡探針 參考價：面議
NCHV-A探針 bruker 原子力顯微鏡探針一組硅探針。數量為10用于TappingMode成像的Bruker's Value Li ne蝕刻硅探針TM在空...
SCANASYST-AIR bruker afm探針 氮化硅針尖 參考價：面議
SCANASYST-AIR bruker afm探針 氮化硅針尖ScanAsyst®利用一種的曲線采集方法和復雜的算法，對圖像質量進行持續的監測，并能...
Bruker高分辨原子力顯微鏡MultiMode 8 參考價：面議
MultiMode® 測試平臺作為歷史悠久的經典機型，由于其分辨率與性能享譽至今。Bruker布魯克原子力顯微鏡MultiMode 8通過高速Peak...
bruker生物型原子力顯微鏡 參考價：面議
bruker生物型原子力顯微鏡NanoWizard 4 XP特點：·高分辨定量成像·150Hz快速掃描助力動態變化過程研究·與精密...
布魯克掃描探針顯微鏡Dimension XR 參考價：面議
布魯克掃描探針顯微鏡Dimension XR（SPM）系統攘括了原子力顯微鏡數十年來的研究和技術創新。通過常規的真原子相分辨率，以及一系列*的技術，包括峰值力輕...
BRUKER原子力顯微鏡 參考價：面議
為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求，Bruker開發了BRUKER原子力顯微鏡Dimension FastScan，不降低分辨力，不增加設備復雜性，不...
Bruker橢偏儀 FilmTek 6000 PAR-SE 參考價：面議
Bruker橢偏儀 FilmTek 6000 PAR-SEFilmTek™ 6000標準桿數-SE先進的多模薄膜計量系統在1x nm設計節點和更高的...
SNL-10探針 bruker 原子力顯微鏡探針 參考價：面議
SNL-10探針 bruker 原子力顯微鏡探針懸臂規范材料:氮化硅幾何:三角懸臂梁數量4懸臂厚度(Nom): 0.6pm懸臂厚度(RNG): 0.55 ~ 0...
Bruker布魯克 JV-QCVelox X射線衍射儀 XRD 參考價：面議
Bruker布魯克 JV-QCVelox X射線衍射儀 XRD——用于 LED 和外延層晶圓分析的生產專用高分辨率 X 射線衍射系統
Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight AFP 參考價：面議
bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight AFP——第五代AFP具有業界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射
Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight CAP 參考價：面議
Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSightCAP——緊湊型高性能剖面儀和AFM
布魯克三維光學輪廓儀ContourX-1000 參考價：面議
布魯克三維光學輪廓儀ContourX-1000落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉（WLI） 系 統 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 ...
Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV 參考價：面議
Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSVFilmTek™ 2000M TSV計量系統為先進的半導體封裝應用提供了速度和精度組合。該系...
Bruker VERTEX 70v 傅立葉變換紅外光譜儀 參考價：面議
Bruker VERTEX 70v 傅立葉變換紅外光譜儀VERTEX70v為要求嚴格的分析和研究應用提供了超高性能。具創新意義的設計成就了該系列譜儀佳的靈活性和...
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