測試速度快的能譜儀器行業的極速探測器技術（SDD）可將測試時間降低到1秒。同時EDX 9000還采用了天瑞儀器產品精密的定位系統，可實現圖像聯動控制，多點連續測試。新增加電動開發的樣品腔使操作更加方便，新設計自動樣品平臺讓檢測得到。 

測試速度快的能譜儀參數規格  

1.元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)；

2.元素含量分析范圍為1 PPm到99.99%；

3.測量時間：1秒或以上； 

4.分析檢測限度高達2PPM,薄可測試0.005um；

5.多次測量重復性可達0.05％（總熒光強度）；

6.工作穩定性為0.05％；（總熒光強度）。

儀器硬件配置                                       

1. 極速探測器

2. X 光管

3. 高、低壓電源                             

4. 高精密攝像頭

5. 數字多道分析器

6. 超大樣品腔

7. 準直器自動切換

8. 濾光片自動切換

9. 準直器和濾光片的自由組合

10. 標準樣品

儀器特點

1.     快—1秒鐘出結果； 

2.     采用行業的極速探測器技術——（SDD）分辨率低至125eV；

優勢：探測面積大（面積達25mm2）、單位時間內接受信息多、計數率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低；

3.     采用行業的數字多道技術；

優勢：提高輸出效率，實現超高計數率，采集計數率高可達600KCPS；

4.     采用大功率X光管及的準直濾光系統；

優勢：激發效率更高；

5.光閘系統；

優勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度；

6.  精密的定位系統； 

超高清晰工業攝像頭，更清晰的顯示測試點；

7.     多點測試；

2D自動移動樣品臺——可實現圖像聯動控制，多點連續測試；

超小樣品檢測——小可測到0.2毫米。