高溫電阻率測試儀原理、概述：采用由四端測量方法測試電阻率系統與高溫試驗箱結合配置的高溫測試探針治具，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過良好的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線，是檢驗和分析材料質量的一種重要的工具。
FT-352導體材料高溫電阻率測試系統
一、概述：
采用由四端測量方法測試電阻率系統與高溫試驗箱結合配置的高溫測試探針治具，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過良好的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線，是檢驗和分析材料質量的一種重要的工具。
二、高溫電阻率測試儀原理適用行業：
廣泛用于：生產企業、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數據的測量.
三、功能介紹：液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；
本儀器采用4.3寸大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
四、高溫電阻率測試儀技術參數資料
一、電阻測量范圍：
1、電阻率： 1×10-8～2×106Ω-cm
電 阻：1×10-8～2×106Ω
電導率：5 ×10-6～1×108ms/cm
分辨率： zui小0.1μΩ
測量誤差±（0.05%讀數±5字）
2、測量電壓量程： 2mV 20mV 200mV 2V
測量精度±（0.1%讀數）
分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV
3、⑴電流輸出：直流電流 0～10000mA 連續可調，由交流電源供電。
?、屏砍蹋?μA，10μA，100?A，1mA，10mA，1000mA,10A量程可自動轉換或者人工設定.
?、钦`差：±0.2%讀數±2字
4. 主機外形尺寸：330mm*340mm*120mm
5、顯示方式：液晶顯示
6、電源：220±10% 50HZ/60HZ
10. zui高溫度： 1200℃可調節；沖溫值：≤1-3℃；控溫精度：±1°C
11、升溫速度：9999分鐘以內自由設定,一般10分鐘內即可升到900℃；功率：3kw.
12、爐膛材料：采用復合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征。
13、帶PC測試軟件，USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數據！
14.選購：電腦和打印機
高溫電阻率測試儀
用于：企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據.
雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
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