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[供應]gdat-a-介電常數介質損耗測試儀
介電常數介質損耗測試儀使用方法
高頻Q表是多用途的阻抗測量儀器，為了提高測量精度，除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小，使耦合回路的頻響盡可能地好之外，還要掌握正確的測試方法和殘余參數修正方法。
1．測試注意事項 ：
a．本儀器應水平安放；
b．如果你需要較精確地測量，請接通電源后，預熱30分鐘；
c．調節主調電容或主調電容數碼開關時，當接近諧振點時請緩調；
d．被測件和測試電路接線柱間的接線應盡量短，足夠粗，并應接觸良好、可靠，以減少因接線的電阻和分布參數所帶來的測量誤差；
e．被測件不要直接擱在面板頂部，離頂部一公分以上，必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊；
f．手不得靠近試件，以免人體感應影響造成測量誤差，有屏蔽的試件，屏蔽罩應連接在低電位端的接線柱。
2．高頻線圈的Q值測量（基本測量法）
介電常數介質損耗測試儀優勢：
雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。
自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。
計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。
gdat高頻Q表的創新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。
介電常數介質損耗測試儀概述
GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。
介電常數介質損耗測試儀技術特性
平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調范圍：≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
4．測微桿分辨率：0.001mm
介電常數介質損耗測試儀要技術特性
Q 值測量范圍 2 ～ 1023 ，
量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔
固有誤差 ≤ 5 ％
工作誤差 ≤7％
電感測量范圍 4.5nH ～ 140mH
電容直接測量范圍 1 ～ 200pF
主電容調節范圍 18 ～ 220pF
主電容調節準確度 100pF 以下± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％
信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ～ 160MHz
頻率分段 （ 虛擬 ） 100 kHz ～ 160MHz
頻率指示誤差 3 ×10 -5 ± 1 個字
從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數。
介電常數介質損耗測試儀滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法
介電常數介質損耗測試儀維修
1．新購儀器的檢查
新購的儀器能先用LKI-1電感組，將各個電感在各個不同頻率測試Q值，把測試的情況，例使用的電感號、測試頻率Q讀數、電容讀數等多次測得數及測試環境條件逐一詳細記錄，并把記錄保存起來，以供以后維修時作參考。
LKI-1電感組是測試時作輔助電感用的，不能把這些電感當作高精度的標準電感看待。隨著測試環境條件不同，測得電感器Q值和分布電容可能略有不同。
2．使用和保養
高頻Q表是比較精密的阻抗測量儀器，在合理使用和注意保養情況下，才能保證長期穩定和較高的測試精度。
a．熟悉本說明書，正確地使用儀器；
b．使儀器經常保持清潔、干燥；
c．本儀器保用期為18個月，如發現機械故障或失去準確度，可以原封送回本廠，免費修理。
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。 溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
