[供應]介電常數測試儀【介電常數裝置】

貨物所在地：北京北京市
產地：北京市海淀區
更新時間：2024-09-24 21:00:07
有效期：2024年9月24日 -- 2025年3月24日
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產品簡介

高頻介質損耗測試系統由S916測試裝置（夾具）、GDAT型高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT）、及LKI-1型電感器組成，它依據國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值（tanδ）和介電常數（ε）自動測量的Z佳解決方案。

詳細介紹

高頻介質損耗測試系統由S916測試裝置（夾具）、GDAT型高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT）、及LKI-1型電感器組成，它依據國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值（tanδ）和介電常數（ε）自動測量的*解決方案。

介電常數測試儀BH916測試裝置GDAT高頻Q表

平板電容極片Φ50mm/Φ38mm 可選頻率范圍20KHz-60MHz/200KHz-160MHz

間距可調范圍≥15mm 頻率指示誤差3×10-5±1個字

夾具插頭間距25mm±0.01mm 主電容調節范圍30-500/18-220pF

測微桿分辨率0.001mm 主調電容誤差<1%或1pF

夾具損耗角正切值≦4×10-4 （1MHz） Q測試范圍2～1023

_{北京北廣精儀儀器設備有限有限公司}

_：

_{聯系人：李叢林}

_{地址：北京市海淀區建材城西路50號}

_{公司：http://www.beiguangjy.com}

介電常數測試儀《BH916介質損耗裝置》（測試夾具）是測試系統的核心檢測部件，它由一個LCD數字顯示的微測量裝置和一對經精密加工的、間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化，測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數。BH916介質損耗測試裝置是本公司研制的更新換代產品，精密的加工設計、精確的LCD數字讀出、一鍵式清零功能，克服了機械刻度讀數誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。

線圈號測試頻率 Q值分布電容p 電感值

9 100KHz 98 9.4 25mH

8 400KHz 138 11.4 4.87mH

7 400KHz 202 16 0.99mH

6 1MHz 196 13 252μH

5 2MHz 198 8.7 49.8μH

4 4.5MHz 231 7 1 0μH

3 12MHz 193 6.9 2.49μH

2 12MHz 229 6.4 0.508μH

1 25MHz 233 0.9 0.125μH

50MHz 211

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