空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品（小于 10 mil）量測值偏低,。

詳細介紹

介電常數(shù)測試儀符合國家標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

介電常數(shù)測試儀技術(shù)參數(shù)：

頻率范圍：20kHz～10MHz；固有誤差：≤5％±滿度值的2％；工作誤差：≤7％±滿度值的2％；

頻率范圍：10MHz～60MHz；固有誤差：≤6％±滿度值的2％；工作誤差：≤8％±滿度值的2％。

測量范圍：14.5nH~8.14H。

分檔：分七個量程。

0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH，

0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。

介電常數(shù)測試儀主要配置：

測試主機一臺；電感9只；夾具一套：附表電感組典型測試數(shù)據(jù)

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