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[供應]GDAT-A-絕緣材料介質損耗介電常數測試儀
絕緣材料介質損耗介電常數測試儀標準配置:
高配Q表 一只
試驗電極 一只 (c類)
電感 一套(9只)
電源線 一條
說明書 一份
合格證 一份
保修卡 一份
絕緣材料介質損耗介電常數測試儀主要性能參數一覽表
BH916測試裝置 GDAT高頻Q表
平板電容極片 Φ50mm 可選頻率范圍20KHz-60MHz、
間距可調范圍≥15mm 頻率指示誤差3×10-5±1個字
夾具插頭間距25mm±0.01mm 主電容調節范圍30-500
測微桿分辨率0.001mm 主調電容誤差<1%或1pF
夾具損耗角正切值≦4×10-4 (1MHz) Q測試范圍2~1023
絕緣材料介質損耗介電常數測試儀全數字化界面和微機控制使讀數清晰穩定、操作簡便。操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ,無須關注量程和換算,*摒棄了傳統Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況,它無疑是電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)測量的理想工具。
絕緣材料介質損耗介電常數測試儀諧振趨勢指針等。高頻信源采用直接數字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz,頻率精度高達1×10-6。國標GB/T 1409-2006規定了用Q表法來測定電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε),把被測材料作為平板電容的介質,與輔助電感等構成串聯諧振因子引入Q表的測試回路,以獲取zui高的測試靈敏度。因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質在高頻工作狀態下的特征。
絕緣材料介質損耗介電常數測試儀《BH916介質損耗裝置》(測試夾具)是測試系統的核心檢測部件,它由一個LCD數字顯示的微測量裝置和一對經精密加工的、間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化,測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數。BH916介質損耗測試裝置是本公司研制的更新換代產品,精密的加工設計、精確的LCD數字讀出、一鍵式清零功能,克服了機械刻度讀數誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。
絕緣材料介質損耗介電常數測試儀由916測試裝置(夾具)、GDAT型高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件(裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成,它依據國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的*解決方案。
正常工作條件
a. 環境溫度:0℃~+40℃;
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7kg;
c.外型尺寸:(寬×高×深)mm:380×132×280。
介電常數介質損耗測試儀特點:
◎ 本公司創新的自動Q值保持技術,使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數:Q值,測試頻率,調諧狀態等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ DPLL合成發生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
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