電磁式及高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計(jì) 日本 型號:WBLZ-370 | 貨號:ZH6915 |
產(chǎn)品簡介 本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可損的測量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導(dǎo)電覆層的厚度(如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。 內(nèi)置打印機(jī),可打印數(shù)據(jù),有四個(gè)統(tǒng)計(jì)功能。 測定方法:電磁式及高頻渦流式 測定對象:磁性金屬上非磁性涂鍍層及非磁性金屬上緣層 測定范圍:電磁式:0~1500um或0~60.0mils 高頻式:0~800um或0~32.0mils 測定精度 電磁式:<15um±0.3um >15um±2% 高頻式:<50um±1um >50um±2% 分辨率:<100um 0.1um >100um 1um 界限設(shè)定:可設(shè)定上/下限數(shù)值 測試單位:公/英制互換 顯示方式:LCD數(shù)顯 操作面板:密封防水按鍵 附屬品:鐵基體/鋁基體/校正標(biāo)準(zhǔn)片/電池/皮套/說明書 電源:DV3V 主機(jī)5#堿性電池×6個(gè) 打印機(jī)5#堿性電池×4個(gè) 體積:80(W)×80(D)×30(H) 重量:1100g |