CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺特點 / 應用
滿足I-V/C-V,PIV測試,光電測試等.
大可用于8英寸以內樣品測試
同軸絲杠傳動結構,線性移動
兼容高倍率金相顯微鏡,可微調移動
可升級做射頻,大電流方面的測試和激光修復應用
CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺 臺體規格: 尺寸 | 4英寸/6英寸/8英寸 | 水平旋轉 | 可360度旋轉,可微調15度,精度0.1度,帶角度鎖死裝置 | X-Y移動行程 | 4英寸*4英寸/6英寸*6英寸 | X-Y移動精度 | 10微米/1微米 | 樣品臺Z軸調節 | 可升降10mm | 樣品固定 | 真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附環 | 針座平臺 | U型針座平臺,多可放置6個探針座 | 背電極測試 | 樣品臺電學獨立懸空,4mm插孔可接背電極 | 外形尺寸 | 400mm長*400mm寬*600mm高/580mm長*480mm寬*600mm高 | 重量 | 約40千克/60千克 |
光學系統: 顯微鏡類型 | 單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡 | 放大倍率 | 16X-200X/20X-4000X | 移動行程 | X-Y軸行程2英寸*2英寸,Z軸行程50.8mm | 光源 | 外置LED環形光源/同軸光源 | CCD | 200萬像素/500萬像素/1200萬像素 |
探針座 X-Y-Z移動行程 | 12mm*12mm*12mm | 移動精度 | 10微米/2微米/0.7微米/0.5微米 | 吸附方式 | 磁力吸附/真空吸附 | 線纜 | 同軸線/三軸線 | 漏電精度 | 10pA/100fA/10fA | 固定探針 | 彈簧固定/管狀固定 | 接頭類型 | BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子 | 針尖直徑 | 0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米 | 針尖材質 | 鎢鋼/鈹銅 |
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