安科瑞 鮑靜君
因?yàn)榈蜏貛缀鯇?duì)所有的產(chǎn)品材料都有不利的影響。對(duì)于暴露于低溫環(huán)境的產(chǎn)品或裝備,由于低溫會(huì)改變其組成材料的物理特性,因此可能會(huì)對(duì)其工作性能造成暫時(shí)損害。
低溫試驗(yàn)僅限于用確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。
方法標(biāo)準(zhǔn):
●GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫》
●IEC 60068-2-1《Environmental testing-Part2-1:Tests-Test A:Cold》
試驗(yàn)?zāi)芰Ψ秶?/span>
溫度范圍: -50℃~+200℃
溫度均勻度: ≤2℃
濕度范圍: 0%~100%R.H.
濕度誤差: +2/-3%R.H.
樣品室尺寸:W50×D60×H75(cm)
應(yīng)用領(lǐng)域:
信息技術(shù)產(chǎn)品.電子電氣產(chǎn)品.
汽車電子產(chǎn)品.電動(dòng)玩具產(chǎn)品.