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梅特勒托利多METTLER TOLEDO分析天平讀數精度范圍廣 – 從0.005 mg到0.1 mg，量程范圍從54 g到520 g，涵蓋了所有分析工作流程。

Analytical Balances
什么是分析天平？
分析天平和半分析天平是一種形式的電子秤，用于以較高的精確度測量質量。
其稱量量程范圍為54-520 g，讀數精度為0.005 mg - 0.1 mg。 分析天平的敏感性要求通過防風罩或防風柜對其進行保護。
梅特勒-托利多XPR和XSR分析天平配備了SmartGrid稱量盤，可大程度減小氣流擾動，因此縮短了穩定時間，更快獲得稱量結果。

Analytical Balances - Applications - Pipette Calibration
分析天平用在什么位置？ 分析天平的應用領域有哪些？
分析天平電子秤也稱為“實驗室天平”，可對樣品進行定量分析。 電子分析天平的典型應用包括：
樣品/標準液制備，
配方，
差重稱量
密度測定
間隔稱量
移液器日常測試
 
如何在分析天平上稱量？
開始稱量操作之前，打開門并使用手套或鑷子將容器放置到稱量盤上。 關門，等待表示重量的值穩定。 按去皮按鈕直至其顯示0.0000 g，清除顯示內容。 添加樣品，直到達到所需重量。 關門，再次等待穩定 – 記錄凈重。 如果儀器斷開電源進行清潔，則留出重新校正時間，然后再重新使用。

梅特勒-托利多分析天平的防風罩幾秒之內即可拆除，并且具有可安全使用洗碗機的面板，實現輕松清潔。 天平的清潔建議與規定
 
什么是分析天平不確定度？
進行測量時，總是存在不確定度元素。 對測量可疑度的估計（不確定度）是任何測量的關鍵。 這是通過測量天平性能、稱量物體的屬性以及周圍環境來確定的。 測量不確定度的確定是天平校準不可分割的一部分。

為什么校準分析天平？
分析天平校準可確保稱量設備既準確，又符合ISO、GLP/GMP、IFS與BRC等標準。 書面校準程序對測量質量進行了說明，應當在天平的整個使用期限內定期校準。

校準不應與天平校正混為一談，必須在校正/維修之后重復進行校準。 了解校準的更多內容。
 
如何校準分析天平？
分析天平的校準由授權服務技術人員使用校準軟件，遵循標準程序來執行：
通過測試測量標準和校準指示之間的關系，來確定儀器的性能如何。
通過合格/不合格聲明驗證儀器是否符合特定要求。
如果不符合要求，則校正儀器，以便任何偏差都不會超過允差限值。
重新校準儀器，確認符合規定的允差要求。
在校準間隔之間的時間內，由用戶執行的日常測試可檢測潛在問題。

梅特勒-托利多開發了一個用于保證稱量設備的正確選型、校準和操作的性科學標準，稱為GWP®，即Good Weighing Practice™。

 
哪些允差適用于天平校準？
允差用于確定天平或電子秤可否有效稱量，以達到一系列特定的工藝要求。 允差定義了發出通過/未通過聲明的標準。 允差源自各種來源，其中包括：

法定允差：
OIML R76或NIST手冊44（僅限美國）規定的法定允差用于評估合法貿易品要求。 此類允差非常大，使用實驗室天平或者在測量范圍的低端進行稱量時，可輕易達標。
制造商允差：
制造商允差確保設備滿足制造商規格。 制造商允差不考慮用戶的特定過程要求，因此不適合改進稱量過程。
過程允差：
特定過程允差由用戶定義，支持過程改進，節省材料，避免浪費和返工。 因此對于合法貿易應用中的電子秤，除法定允差外，還應使用過程允差。
法定允差可保護消費者但不考慮特定生產商的要求。 優化應用于測量儀器的過程允差會對過程盈利能力產生巨大影響。

什么是分析天平小稱量值？
每個分析天平小稱量值都是不同的，具體取決于稱重傳感器的性能、其位置以及環境條件。 小稱量值是儀器的準確性限值，如果低于此小稱量值，相對測量不確定度（測量不確定度除以荷載，通常以%表示）則會大于所需的稱量準確性，稱量結果無法信任。
為了確定天平的小稱量值，需要在工作環境中評測測量不確定度。 另外，作為小稱重范圍天平中的一個主要誤差源，還可對可重復性進行評測以確定小稱量值，該過程使用低于天平量程5%的小砝碼執行。

梅特勒-托利多分析天平的MinWeigh功能由經過認證的技術人員安裝，用于監測天平的小樣品重量。 如果稱量低于所確定的可接受小值，天平顯示屏則會變為紅色。
 
分析天平準確性和精確性 – 兩者之間差別是什么，如何測試？
精確性指的是兩個或多個測量值之間的接近度。 準確性指的是測量值與已知值之間的接近度，它基于讀數精度、可重復性、非線性和偏載度。 準確性可使用以下方式進行測試：
具有已知質量的外部參比砝碼（可追溯校準砝碼）
使用內置到天平的參比質量的自動內部校正
準確性只能通過在使用位置對儀器進行的測試加以確定。
查看有關Good Weighing Practice的實驗室天平教程 – 基本知識和稱量影響課程。
 
靜電對分析天平有哪些影響，如何消除靜電負荷？
靜電負荷可能導致稱量結果不穩定，不可重復。 靜電會對稱量盤產生作用力，直接影響分析天平結果。 減少這些影響的預防措施包括：
確保充足的空氣濕度(≥ 45%...50%)
盡可能使用防靜電稱量容器（是金屬）
避免摩擦容器
如果樣品足夠小，則使用帶邊緣的金屬盤來幫助屏蔽磁場。
要確保分析天平靜電消除，可在稱量之前使用去靜電裝置對樣品和容器進行放電。

梅特勒托利多METTLER TOLEDO分析天平選型

電子天平 XPR205D5/AC
電子天平 XPR205DU/AC
電子天平 XPR206DR/AC
電子天平 XPR205/AC
電子天平 XPR205DR/AC
電子天平 XPR105/AC
電子天平 XPR105DR/AC
電子天平 XPR305D5/AC
電子天平 XPR204/AC
電子天平 XSR204/AC
電子天平 XSR304/AC
電子天平 XSR204DR/AC
電子天平 XSR104/AC
電子天平 XSR64/AC
Balance XSR105DU/AC
電子天平 XSR105/AC
電子天平 XSR205DU/AC
電子天平 XSR225DU/AC
電子天平MS104TS/02
電子天平MS204TS/02
電子天平MS304TS/02
電子天平ML54T/00
電子天平ML104T/00
電子天平ML204T/00
電子天平ML304T/00
電子天平ML104T/02
電子天平ML204T/02
電子天平ML304T/02
電子天平ML54T/02
電子天平MS105
Analytical Balance MS105/M
電子天平MS105DU
Analytical Balance MS105DU/M
電子天平MS205DU
電子天平MS204
Analytical Balance MS205DU/M
Analytical Balance MS204/M
Analytical Balance ME54T/02
電子天平ME104/02
電子天平ME104E/02
電子天平ME204/02
電子天平ME204E/02
電子天平ME54/02
電子天平ME54E/02