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中國電子行業(yè)儀器優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商——堅(jiān)融實(shí)業(yè)JETYOO INDUSTRIAL，Support、銷售Sale、服務(wù)Service，3S公司，提供專業(yè)的解決方案，測試測量技術(shù)改進(jìn)、技術(shù)培訓(xùn)、采購管理、售后維修服務(wù)。

吉時(shí)利KEITHLEY2000，2001,2002,2010萬用表應(yīng)用領(lǐng)域：
 離散和無源元件 
–兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅(qū)動(dòng)器頭、金屬氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻
–三抽頭器件——小信號(hào)雙極結(jié)型晶體管（BJT）、場效應(yīng)晶體管（FET）等等 
 簡單IC器件——光學(xué)器件、驅(qū)動(dòng)器、開關(guān)、傳感器
 集成器件——小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI）
–模擬IC 
–射頻集成電路（RFIC）
–集成電路（ASIC）
–片上系統(tǒng)（SoC）器件
 光電器件，例如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管、高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發(fā)射激光器（VCSEL）、顯示器
 圓片級(jí)可靠性
- NBTI、TDDB、HCI、電遷移
 太陽能電池
 電池
暫態(tài)抑制器件
IC、RFIC、MMIC
激光二極管、激光二極管模塊、LED、光電檢測器
電路保護(hù)器件:
TVS、MOV、熔絲
安全氣囊
連接器、開關(guān)、繼電器
碳納米管
半導(dǎo)體納米線
碳納米管 FET
納米傳感器和陣列
單電子晶體管
分子電子
有機(jī)電子
基本運(yùn)放電路
二極管和電路
晶體管電路

測試：
漏流
低壓、電阻
LIV
IDDQ
I-V特征分析
隔離與軌跡電阻
溫度系數(shù)
正向電壓、反向擊穿、漏電流
直流參數(shù)測試
直流電源
HIPOT
介質(zhì)耐受性

雙極結(jié)型晶體管設(shè)計(jì)
結(jié)型場效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)
金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)
太陽能電池和 LED 設(shè)計(jì)
高電子遷移率晶體管設(shè)計(jì)
復(fù)合半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)

分析納米材料和實(shí)驗(yàn)器件
碳納米管的電測量標(biāo)準(zhǔn)
測量碳納米管電氣特性
提高納米電子和分子電子器件的低電流測量
在低功率和低壓應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確、可靠的電阻測量
納米級(jí)器件和材料的電氣測量
提高超高電阻和電阻率測量的可重復(fù)性
一種微分電導(dǎo)的改進(jìn)測量方法
納米技術(shù)準(zhǔn)確電氣測量的技術(shù)
納米級(jí)材料的電氣測量
降低外部誤差源影響的儀器技術(shù)
迎接65nm節(jié)點(diǎn)的測量挑戰(zhàn)
測量半導(dǎo)體材料的高電阻率和霍爾電壓
用微微微安量程測量電流
柵極電介質(zhì)電容電壓特性分析
評估氧化層的可靠性

的半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和試驗(yàn)低電阻、低功耗半導(dǎo)體器
輸出極低電流和測量極低電壓分析現(xiàn)代材料、半導(dǎo)體和納米電子元件的電阻
低阻測量(低至10nΩ)分析導(dǎo)通電阻參數(shù)、互連和低功率半導(dǎo)體。
用于*進(jìn)CMOS技術(shù)的脈沖可靠性測試
高K柵極電介質(zhì)電荷俘獲行為的脈沖特性分析
用6線歐姆測量技術(shù)進(jìn)行更高準(zhǔn)確度的電阻測量
配置分立電阻器驗(yàn)證測試系統(tǒng)
電信激光二極管模塊的高吞吐率直流生產(chǎn)測試
多臺(tái)數(shù)字源表的觸發(fā)器同步
高亮度、可見光LED的生產(chǎn)測試
OLED顯示器的直流生產(chǎn)測試
在運(yùn)行中第5次測量用于偏置溫度不穩(wěn)定特性分析
數(shù)字源表的緩沖器以及如何用這兩個(gè)緩沖器獲取多達(dá)5000點(diǎn)數(shù)據(jù)
連接器的生產(chǎn)測試方案
射頻功率晶體管的直流電氣特性分析

1. MOS 電容器
C-V 曲線 (高頻：100kHz)：
摻雜類型 – 氧化層厚度 – 平帶電壓 – 閾值電壓 – 襯底摻雜 – zui大耗盡層

寬度 – 反型層到平衡的靈敏度：電壓掃描率和方向 – 光效應(yīng)和溫度效應(yīng)。
I-V 曲線分析：
電荷建立 (測量電壓 - 時(shí)間圖，用低電流源)； 氧化層電容測定； 與 C-V 曲線

比較。
C-V 曲線 (準(zhǔn)靜態(tài)) 結(jié)合 C-V 曲線：
表面電位 Ψs 與施加電壓的關(guān)系 – Si (100) 的表面態(tài)密度 Dit = f (Ψs) 與 

Si (111) 的相比：方向和后處理退火的影響。
C-V 曲線 (高頻：100kHz)：
移動(dòng)氧化層電荷密度 (偏壓溫度應(yīng)力：200°C，10 分鐘，±10V)
 
2. 雙極結(jié)型晶體管
     主題
   正向共發(fā)射極輸出特性：Ic = f (Vce>0,Ib), Iceo (f) 測量。
   正向 CE 輸入特性：Ib = f (Vbe) 對于幾個(gè) Vce 正值。
   正向 Gummel 曲線： log Ic, log Ib = f(Vbe >0).
   確定增益 βf = Ic/Ib 和 af。
   Βf 與 log(Ic) 的關(guān)系： 低注入和高注入的效果。
   非理想特性：爾利電壓。
   反向 CE 輸出特性： Ic=f(Vce<0,Ib), Iceo(r).
   反向 CE 傳輸特性：Ib=f(Vbe) 對于幾個(gè)Vce負(fù)值。
   反向 Gummel 曲線： logIe, logIb=f(Vbc>0).
   確定增益 βr = Ie/Ib 和 ar。
   Βr 與 log(Ie) 的關(guān)系： 低注入和高注入的效果。
   Vce(sat) = Vbe(on) – Vbc(on) 確定，對于給定的 Ib 電流。
   Ebers Moll 模型構(gòu)建并且與實(shí)驗(yàn)做比較。
   BE 和 CE 結(jié)的 C-V 特性分析。基區(qū)摻雜濃縮。
 
3. 亞微米集成 MOSFET
輸出特性：IDS = f(VDS,VGS):
p型 MOSFET (增強(qiáng)或耗盡)，溝道長度調(diào)制參數(shù)(λ) 在飽和區(qū)域 (VDS<–3V) 有效

溝道長度與 VDS 的關(guān)系。
傳輸特性：
襯底偏壓特性： 
亞閾值特性：
襯底電流特性：
使用長溝道和短溝道公式的輸出特性模型：比較實(shí)驗(yàn)結(jié)果。

美國吉時(shí)利keithley 2000六位半數(shù)字多用表為吉時(shí)利高性能數(shù)字多用表系列產(chǎn)品的成員。2000在與2001和2002相同的高速、低噪聲A/D轉(zhuǎn)換技術(shù)的基礎(chǔ)上，為用戶提供了一款高速、精確和高度穩(wěn)定的儀器，并且易學(xué)易用，價(jià)格實(shí)惠。它具有很寬的測量量程和很高的精度：DC電壓量程為100nV到1kV（90天基礎(chǔ)精度為0.002%），DC電阻量程為100μΩ到100MΩ（90天基礎(chǔ)精度為0.008%）。對于多點(diǎn)測量應(yīng)用，通過選配開關(guān)卡，可以實(shí)現(xiàn)多達(dá)20路的輸入信號(hào)復(fù)用。
 
KEITHLEY2000美國吉時(shí)利萬用表特點(diǎn)
 
13種內(nèi)置測量功能
在四位半模式下可達(dá)2000次讀數(shù)/秒
多種掃描卡選件，支持多點(diǎn)測試
IEEE-488和RS-232接口
與 Fluke 8840/42命令兼容
  
KEITHLEY2000美國吉時(shí)利萬用表主要指標(biāo)

標(biāo)配配件
1751型2線通用測試探頭（適用于175A、197A、2000、2001、2002、2010、2015、2016）

KEITHLEY2000美國吉時(shí)利萬用表另外選購配件
1600A型40kV，1000：1分壓探頭，長度為2米（6.6 ft），（適用于數(shù)字多用表）
1651型50A電流分流器（適用于數(shù)字多用表）
1681型2線通用夾式測試線組（適用于數(shù)字多用表）
1754型2線通用10片裝測試線套件（適用于175A、197A、2000、2001、2002、2010）
4288-1型單機(jī)架安裝套件（適用于428、486、487、776、2700、2000系列、2182、2300 系列、2400系列、2500系列、6514、6517A、7001、6430、6485）
4288-2型雙機(jī)架安裝套件（適用于428、486、487、776、2000系列、2182、2300 系列、2400系列、6514、6517A、7001、2700、6430、6485）
5804型Kelvin（4線）10件裝的通用測試線套件（適用于580、2400系列、數(shù)字多用表）
5805型Kelvin（4線）帶彈簧的探頭，長度為0.9米（3 ft）（適用于580、數(shù)字多用表）
5805-12型Kelvin（4線）帶彈簧的探頭，長度為3.6米（12 ft）（適用于數(shù)字多用表）
5806型Kelvin（4線）特大號(hào)鱷魚夾測試線，長度為0.9米（3 ft）（適用于580、2400系列、數(shù)字多用表）
5807-7螺旋狀彈簧尖頭測試線（適用于580、數(shù)字多用表）
7007-1：雙層屏蔽高級(jí)GPIB接口電纜，長度1米（3.3ft）（用于GPIB互連）
7007-2：雙層屏蔽高級(jí)GPIB接口電纜，長度2米（6.6ft）（用于GPIB互連）
7009-5型屏蔽RS-232電纜，長度為1.5米（5 ft）（適用于2000、2010、6517A、2400系列）
KPCI-488LPA，KPCI-488LPA型 IEEE-488.2 PCI Bus 插件板
KUSB-488A型IEEE-488.2 USB-GPIB接口適配器，適用于USB接口，內(nèi)置2米（6.6ft）電纜
8620型通用4線數(shù)字多用表短路插頭
4288-4型固定機(jī)架安裝套件（適用于195A、196、220、224、230、230-1、263、428、486、487、595、617、740、775A、776、2000系列、2182、2300系列、2400系列、6512、6514、6517A、7001）
8606型高性能模塊化探頭套件（適用于2000、2001、2002、2010、2400系列）

系統(tǒng)附加功能/模塊
2000-SCAN 型10通道通用掃描卡（適用于2000、2001、2002、2010）
2001-SCAN 型10通道掃描卡，帶8個(gè)繼電器輸入和2個(gè)固態(tài)輸入（適用于2000、2001、2002、2010）
2001-TCSCAN 型9通道掃描卡用于CJC、電壓、電阻和/或頻率測量（適用于2000、2001、2002、2010）

組合產(chǎn)品
KEITHLEY2000/2000-SCAN型、KEITHLEY2000型六位半數(shù)字多用表（帶KEITHLEY2000-SCAN型10通道掃描卡）

配套產(chǎn)品
KEITHLEY7001，7001型80通道程控開關(guān)控制器
KEITHLEY7002，7002型400通道程控開關(guān)控制器

KEITHLEY2000美國吉時(shí)利萬用表系列產(chǎn)品
KEITHLEY2000-20型六位半數(shù)字多用表（帶20通道掃描卡）
KEITHLEY2000/2000-SCAN型、2000型六位半數(shù)字多用表（帶2000-SCAN型10通道掃描卡）
KEITHLEY2001型高性能七位半數(shù)字多用表，帶8k存儲(chǔ)器
KEITHLEY2002型高性能八位半數(shù)字多用表，帶8k存儲(chǔ)器
KEITHLEY2010型七位半低噪聲自動(dòng)變量程數(shù)字多用表
KEITHLEY2700型數(shù)字多用表，數(shù)據(jù)采集，數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)，帶2個(gè)插槽
KEITHLEY2701型數(shù)字多用表，數(shù)據(jù)采集，數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)，帶2個(gè)插槽和以太網(wǎng)功能
KEITHLEY2750型數(shù)字多用表/數(shù)據(jù)采集/開關(guān)/數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)