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手機(jī)芯片冷熱沖擊老化試驗(yàn)箱
設(shè)備用途  

適用于電子、電工產(chǎn)品和其他設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，也是篩選電子元器件初期故障的助手。  

高低溫沖擊測(cè)試箱（溫度沖擊試驗(yàn)箱）是我司重點(diǎn)研發(fā)設(shè)備，國(guó)家產(chǎn)品，電子行業(yè)里我們客戶繁多，也希望得到您的認(rèn)可。

溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過(guò)程的全程記錄和追溯；
每臺(tái)電機(jī)均配置過(guò)流（過(guò)熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~*自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

 

手機(jī)芯片冷熱沖擊老化試驗(yàn)箱

設(shè)備特點(diǎn)
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng)，使用壽命長(zhǎng)；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；
多種可選功能（測(cè)試孔、記錄儀、測(cè)試電纜等）保證了用戶多種功能和測(cè)試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；

溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過(guò)程的全程記錄和追溯；
每臺(tái)電機(jī)均配置過(guò)流（過(guò)熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~*自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

 

手機(jī)芯片冷熱沖擊試驗(yàn)箱

設(shè)備執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)    
1、GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；     
2、GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；     
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；     
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；     
5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；     
6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。     
7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式      
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式      
9、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化      
10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則      
11、GB/T 2423.22-2002溫度變化      
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則    
13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估 

手機(jī)芯片冷熱沖擊老化試驗(yàn)箱

安裝條件

手機(jī)芯片冷熱沖擊老化試驗(yàn)箱