產品簡介
詳細介紹
半導體(晶體)快速溫度循環變化測試儀器,試驗箱
環境應力篩選的意義
環境應力篩選(ESS)是指對樣品接觸到的可能導致過早故障的氣候、熱力或機械應力進行篩查的方法,比如:可以發現電子模塊設計、材料或生 產中的缺點。
應力篩選(ESS)技術可以在研制和生產階段發現早期故障,減少由于設計選型錯誤或制程工藝不良引起失敗的風險,大大提高產品可靠性。
通過環境應力篩選可以找出已經進入生產測試階段的不可靠的系統,它已經作為質量改進的一種標準方法,有效延長產品的正常工作壽命。
SDE系列快速溫度變化試驗(篩選)箱具有制冷、加熱和除濕、加濕(濕度功能僅SDE-H系列)自動調節功能,主要用于溫度應力篩選,同時也可以用于傳統的高溫、低溫、高低溫循環、恒定濕熱、交變濕熱、溫濕度組合等環境試驗。
Platinum系列快速溫度變化試驗箱:*的追求
Platinum系列試驗箱是宏展科技的產品,它把產品測試帶到了一個全新的階段。從大馬力壓縮機和在試驗區的高風速,到的Q8控制器所展現的圖形/曲線功能,Platinum系列試驗箱已迅速建立起一個質量和精度的新標準。高性能Platinum系列試驗箱能使箱內環境和被測產品產生快速溫度變化,從而大大減少了試驗時間,提高了試驗的工作效率。快速溫度變化也使被測產品產生了更大的應力,因而也提高了應力篩選效率。
Platinum系列產品的設計是美學與*的試驗技術相結合的*。Platinum系列產品不僅在技術性能上有很大的創新,而且箱體設計簡潔流暢,美觀大方,它將成為您試驗室的又一道亮麗風景。
如果我們標準的Platinum系列試驗箱配置滿足不了您的試驗要求,我們還可以為您特別設計。
應用
檢驗設計
Platinum系列試驗箱的溫度變化率很快,可以幫助您在出廠前發現產品的設計缺陷。
氣候試驗
Platinum系列溫度試驗箱加上濕度模塊,即可成為溫度/濕度試驗箱。
產品篩選
通過溫度和濕度循環可使您在發現之前檢測出產品存在的潛在缺陷,提高產品的質量和可靠性。
性能
功能的Q8控制器
Q8控制器帶有一個光彩鮮明的10.4英寸的彩色觸摸屏,操作和數據采集簡單可靠,*的圖形/曲線顯示功能使操作者可以很方便的觀察試驗過程。她具有強大的網絡功能,硬盤容量大,基于密碼的多級別訪問權限能有效保護敏感數據。
USB接口便于數據和程序的傳送和儲存。
濕度模塊自帶水循環裝置
Platinum系列試驗箱具有模塊化濕度系統,此模塊可以很方便地添加到試驗箱上,以適應變化的試驗要求。可靠的內置式電子濕度傳感器既增加了測量的精度又減少了維修的次數。擁有自帶水凈化循環裝置的濕度模塊,您將不再需要外部水源。
的空氣流設計
試驗中對精度的梯度控制提高了試驗箱的溫濕均勻度,從而使試驗結果更加精確。
大馬力壓縮機組
容積600升以上的Platinum系列試驗箱可以配置3馬力、6馬力、10馬力或15馬力的壓縮機組,使試驗箱的降溫速率達到每分鐘10℃以上。
風冷通道新設計
對于風冷制冷系統,排風口設在試驗箱頂部,從而減少了試驗室內空調的負荷。
電子壓力傳感器和壓力開關
借助于電子壓力傳感器和壓力開關,試驗箱能有效地進行自我監測和保護,也方便了故障診斷。當更換制冷劑或有其它需要時,可以更改壓力傳感器的極限設定值。
平滑流暢的外觀設計
該系列試驗箱的設計融入了人體工程學概念,箱體的前端和側面非常平滑。試驗箱的觀察窗是*可視的,且不凝露。可選擇的左開門和右開門得以適應不同的試驗室布局,zui大限度的利用了試驗室空間。而設備底部的小輪子增加了使用的方便性。用戶也可以選擇不銹鋼門。
半導體(晶體)快速溫度循環變化測試儀器,試驗箱設備特點
高強度、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性;
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強,使用壽命長;
高密度聚氨酯發泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小;
表面噴塑處理 – 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命;
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性;
多種可選功能(測試孔、記錄儀、凈水系統等)保證了用戶多種功能和測試的需要;
大面積電熱防霜觀察窗、內藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
環保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環境保護要求;
*可根據用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能
半導體(晶體)快速溫度循環變化測試儀器,試驗箱溫度控制
可實現溫度定值控制和程序控制;
全程數據記錄儀(可選功能)可以實現試驗過程的全程記錄和追溯;
每臺電機均配置過流(過熱)保護/加熱器設置短路保護,確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性;
USB接口、以太網通訊功能,使得設備的通訊www.oven.cc和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要;
采用流行的制冷控制模式,可以0%~*自動調節壓縮機制冷功率,較傳統的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
制冷及電控關鍵配件均采用產品,使設備的整體質量得到了提升和保證;
半導體(晶體)快速溫度循環變化測試儀器,試驗箱
產品&規范 | 廠商名稱 | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環數 | 循環 | 備注 |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 |
| 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10~12 | 3h20min |
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MIL-344A-4-16 | 設備或系統 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 |
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MIL-2164A-19 |
| 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 |
| 駐留時間為內部達到溫度10℃時 |
NABMAT-9492 | 設備或系統 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 |
| 駐留時間為內部達到溫度5℃時 |
GJB/Z34-5.1.6 | 組件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 |
| 達到溫度穩定的時間 |
GJB/Z34-5.1.6 | 設備或系統 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 |
| 達到溫度穩定的時間 |
筆記型計算機 | 主機板廠商 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min |
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半導體(晶體)快速溫度循環變化測試儀器,試驗箱