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LED LM-80復疊式老化測試系統（半導體型）-重慶宏展
LED LM-80復疊式老化測試系統（半導體型）-重慶
本機是根據IES LM-80標準，針對LED燈珠測試中的老化測試項目而研發的一款機臺，具有Ts Ta雙路溫度獨立控制，測試區濕度控制等功能，單一區間內多路模組獨立控制，半導體電制冷恒溫，雙向PID功率調節輸出，并可無縫配合積分球測試的全新一代老化測試系統。
LED LM-80復疊式老化測試系統（半導體型）-重慶
設備特點
環境溫度：能夠有效控制LED燈珠老化的環境溫度，即周圍空氣溫度Ta。
濕度顯示：能夠做到Ts,Ta溫度及濕度實時顯示功能。
TS制：能夠控制每一顆LED燈珠的TS。
TA制：能夠控制周圍空氣溫度Ta，并滿足LM-80的TA不低于TS-5℃
溫度測試：在廠家位置TS的情況下，能夠對每一顆LED燈珠的殼溫度進行在線實時監測。
遠程監測：能夠對每一顆LED燈珠的TS,TA進行在線實時監測，并且傳輸給遠程電腦，做到數據同步和備份。
電流控制：每一顆LED燈珠由獨立恒流電流源供電，可單獨控制輸出電流值，并滿足LM-80的±3%的偏差要求。
時間采集：對于每一組LED燈珠被點亮的老化時間采集，并且符合LM-80老化時間±0.5%的偏差要求。
控制備份：有主從備份計算機，即可實現數據備份，也可實現控制備份。
過溫保護：具備完善可靠的溫度故障保護停機功能。
模塊結構：整體式造型，便于安裝、拆卸，采用快速接口，安裝方便，提高工作效率。
適用種類：電路板安裝形式（直接將燈珠放置在模塊上測試）或夾具安裝形式（將燈珠放置在夾具上測試）。
結構特點：低噪音、安全無泄漏、低成本、維護便捷、性能穩定。
LED LM-80復疊式老化測試系統（半導體型）-重慶
型號
型號 | UFL-8014C HxD（mm） | UFL-8024C HxD（mm） | UFL-8034C HxD（mm） |
內部尺寸 | 400X400X660 | 400X400X660 | 400X400X660 |
外部尺寸 | 1250X810X1000 | 1250X1310X1000 | 1250X1810X1000 |
LED LM-80復疊式老化測試系統（半導體型）-重慶
溫度、濕度、環境參數
溫度范圍 | 常溫+5℃~150℃ |
環境濕度 | ≤65%H |
溫度解析度 | 0.01℃ |
溫度控制精度 | ±1.5℃ |
波動度 | ≤±0.5℃ |
測試時間和間隔 | ≥6000hrs,每隔1000小時采集一次數據，建議初始會測試數據頻率密集（0,24,48,120,480,1000……） |
條件 | Case的溫度TS=55℃,85℃,T3rd(在規定外用戶自選溫度) |
環境的溫度TA | Ta≥Ts-5℃測試距Case正上方1.5mm空氣中溫度 |
內箱風速 | ＜0.3m/s |
測試容量 | 根據客戶產品尺寸及功率大小不同，測試容量不同 |
數據采集、遠程監控參數
采集器配備 | 采用YOKOGAWA MW100數據采集器，根據機器選型的不同可分別配置20、30、40、60通道的采集器（也可根據客戶要求配備） |
高速測量 | 10ch/1s,60ch/1s(1個主單元內)高速測量：zui短測控周期為1ms |
多測量周期 | 一個主單元可以混合三種測試周期，zui大可支持2G的CF卡，（在60ch/100 ms時可連續采集數據約10天，60ch/1s時可連續采集約3個月） |
采集器特點 | MW100本體帶有開/關按鈕，既可獨立采集數據，也可以利用以太網和瀏覽器軟件在PC上進行實時監視，通過網絡采集數據，MW100r數據輸入輸出范圍廣，可支持高速測量，同時具有很強的抗干擾性，即使在惡劣環境中也可以完成測量工作。 |
采集時間分辨率 | 10ms~500ms |
電源參數
通道數 | 標配40通道（選配zui大可達1000個） |
電流量程 | 0-1A,0-10A,0-20A以上 |
通道間連接方式 | 通道間可以并聯以增大電流 |
老化電流精度 | 老化測試時輸入電流應控制在額定電流的±3% |
測試電流精度 | 光學測試時輸入電流應控制在額定電流的±0.5% |
LED LM-80復疊式老化測試系統（半導體型）-重慶
電壓表參數
電壓量程 | 0-150V(選配可達40V) |
分辨率 | 0.1V
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LED LM-80復疊式老化測試系統（半導體型）-重慶