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AFM探針/力學測量/楊氏模量/RTESPA-150
AFM探針/力學測量/楊氏模量/RTESPA-150AFM探針,原子力顯微鏡探針,veeco探針,Bruker探針
型號:
所在地:上海市
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面議更新時間:2023/12/28 16:39:21
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原子力顯探針AFM探針/楊氏模量Bruker探針veeco探針
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AFM探針/力學測量/楊氏模量/RTESPA-525
AFM探針/力學測量/楊氏模量/RTESPA-525AFM探針,原子力顯微鏡探針,veeco探針,Bruker探針
型號: veeco探針
所在地:上海市
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面議更新時間:2023/12/28 16:31:15
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原子力顯探針力學測量楊氏模量Bruker探針veeco探針
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原子力顯探針/力學測量/楊氏模量/ DNISP-HS
原子力顯探針/力學測量/楊氏模量/ DNISP-HSAFM探針,原子力顯微鏡探針,veeco探針,Bruker探針
型號: AFM探針
所在地:上海市
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面議更新時間:2023/12/28 16:24:47
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原子力顯探針力學測量楊氏模量Bruker探針veeco探針
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納米力學測試系統(tǒng)
納米力學測試系統(tǒng)TI 980一臺優(yōu)異納米力學測試儀器所需的要求,實驗上的靈活度與可實現(xiàn)性,測量穩(wěn)定性,以及系統(tǒng)設計的模塊化。
型號: TI 980
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面議更新時間:2023/12/28 15:01:46
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納米力學測試系統(tǒng)納米粒度儀ZETA粒度儀激光粒度儀納米粒度電位儀
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Hysitron 納米力學測試系統(tǒng)
Hysitron 納米力學測試系統(tǒng)可以采用TI Premier 的多種基本配置完成常規(guī)測量的研究,同時多樣化的升級選項可以滿足您未來表征的潛在多樣性的需求。
型號: TI Premie...
所在地:上海市
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面議更新時間:2023/12/28 14:58:04
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馬爾文帕納科噴霧粒度儀納米粒度儀ZETA粒度儀激光粒度儀納米粒度電位儀
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原子力顯微鏡
原子力顯微鏡MultiMode是受歡迎的掃描探針顯微鏡,得到客戶的高度,迄今為止數(shù)以萬計的MultiMode®掃描探針顯微鏡已經(jīng)在成功安裝使用。
型號: MultiMode...
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面議更新時間:2023/12/28 14:49:33
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原子力顯微鏡偏光顯微鏡生物顯微鏡教學顯微鏡MC-XSP00系列顯微鏡
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掃描探針顯微鏡Innova
掃描探針顯微鏡Innova同類AFM中具有低的噪音水平和高的分辨率Innova掃描探針顯微鏡(SPM)具有很高的分辨率,實用性強,從器件表征到物理化學、生命科學...
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面議更新時間:2023/12/28 14:38:25
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原子力顯微鏡偏光顯微鏡生物顯微鏡教學顯微鏡MC-XSP00系列顯微鏡
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原子力顯微鏡Dimension FastScan
原子力顯微鏡Dimension FastScanDimension FastScan 原子力顯微鏡 (AFM)在不損失Dimension® Icon&...
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面議更新時間:2023/12/28 14:33:05
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原子力顯微鏡偏光顯微鏡生物顯微鏡教學顯微鏡MC-XSP00系列顯微鏡
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原子力顯微鏡Dimension Icon
原子力顯微鏡Dimension Icon原子力顯微鏡Dimension Icon( Bruker Dimension® Icon™ ) 是...
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所在地:上海市
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面議更新時間:2023/12/28 14:29:01
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原子力顯微鏡偏光顯微鏡生物顯微鏡教學顯微鏡MC-XSP00系列顯微鏡
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生物型原子力顯微鏡
生物型原子力顯微鏡NanoWizard® 4 XP BioScience 是一款專為生物科學研究打造的具有更高性能與更高靈活性的生物型原子力顯微鏡
型號: NanoWizar...
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面議更新時間:2023/12/28 14:15:43
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原子力顯微鏡偏光顯微鏡生物顯微鏡教學顯微鏡MC-XSP00系列顯微鏡
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布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE
布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE(立方)是一種以脈沖復位模式運行的單片電荷靈敏式前置放大器,借助外部電阻器,也可以以連續(xù)復位...
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面議更新時間:2023/12/27 18:17:40
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DANTE數(shù)字脈沖處理器布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE
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DANTE數(shù)字脈沖處理器
DANTE數(shù)字脈沖處理器DANTE數(shù)字脈沖處理器伽馬射線探測器信號,數(shù)字脈沖處理器,前置放大器芯片,X射線信號,前置放大器芯片,SDD探測器,同步輻射光源。
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面議更新時間:2023/12/27 18:13:08
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DANTE數(shù)字脈沖處理器
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薄膜測厚儀MProbe系列
薄膜測厚儀MProbe系列反射光譜干涉法是一種非接觸式、無損的、快速的光學薄膜厚度測量技術。
型號:
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面議更新時間:2023/12/27 18:07:49
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涂層測厚儀 探頭便攜式涂層測厚儀反射膜厚儀MProbe NIR
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反射膜厚儀MProbe Vis
反射膜厚儀MProbe VisMProbe Vis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
型號:
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面議更新時間:2023/12/27 18:06:10
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涂層測厚儀 探頭便攜式涂層測厚儀反射膜厚儀MProbe NIR
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反射膜厚儀MProbe UVVisSR
反射膜厚儀MProbe UVVisSRMProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
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面議更新時間:2023/12/27 18:02:45
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涂層測厚儀 探頭便攜式涂層測厚儀反射膜厚儀MProbe NIR
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反射膜厚儀MProbe RT
反射膜厚儀MProbe RT該機大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
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面議更新時間:2023/12/27 18:00:22
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涂層測厚儀 探頭便攜式涂層測厚儀反射膜厚儀MProbe NIR
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反射膜厚儀MProbe NIR
反射膜厚儀MProbe NIR采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域,比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜(CIGS,...
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面議更新時間:2023/12/27 17:56:03
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涂層測厚儀 探頭便攜式涂層測厚儀反射膜厚儀MProbe NIR
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顯微反射膜厚儀MProbe MSP
顯微反射膜厚儀MProbe MSPMProbe MSP顯微薄膜測厚儀適用于實時在線測量,多層測量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),新材料可以...
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面議更新時間:2023/12/27 17:50:33
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涂層測厚儀 探頭便攜式涂層測厚儀
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涂層測厚儀SURFIX®X系列
涂層測厚儀SURFIX®X系列測量儀器: 彩屏, PC 連接,易操作,以及適合PHYNIX探頭
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面議更新時間:2023/12/27 17:41:45
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涂層測厚儀 探頭便攜式涂層測厚儀
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涂層測厚儀SURFIX®系列
涂層測厚儀SURFIX®系列用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍以及陽氧化涂層的快速測量
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面議更新時間:2023/12/27 17:39:18
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涂層測厚儀 探頭便攜式涂層測厚儀