超輕元素微區(qū)X射線熒光成像光譜儀M4 PLUS

M4 TORNADO PLUS  產(chǎn)品簡介：

超輕元素微區(qū)X射線熒光成像光譜儀M4 TORNADO PLUS是布魯克微區(qū)X射線熒光光譜儀M4 TORNADO 系列的新產(chǎn)品，擁有更多特性和功能，例如可檢測出C（6）- Am（95）間全部元素的強大性能、創(chuàng)新性的孔徑管理系統(tǒng)，高通量脈沖處理器以及快速靈活更換的樣品臺等。

產(chǎn)品特點：

·  超輕元素窗口SDD探測器，可檢測到輕質(zhì)元素，如碳元素等

·  高通量脈沖處理器，有效減少測樣時間，提高測試效率

·  孔徑管理系統(tǒng)，更大景深，對表面不平整樣品分析具有特別的優(yōu)勢

·  快速靈活的樣品臺（可選），模塊化的樣品臺接口，減少樣品的更換和準(zhǔn)備時間

·  配備準(zhǔn)直器的第二個X射線光管（可選），四種光斑尺寸，高能量線性分析更靈活

·  氦氣吹掃功能（可選），增加元素的分析范圍，在常壓下進行輕質(zhì)元素分析

應(yīng)用實例：

1、超輕元素探測器區(qū)分螢石和方解石

螢石（CaF2）和方解石（CaCO3）都是以鈣為主要成分的礦物。它們的區(qū)別在于分別存在輕質(zhì)元素氟（F），氧（O），碳（C），因此無法使用普通的X射線光譜儀來進行檢測區(qū)分。M4 TORNADO PLUS具備超輕元素探測器，可以有效的檢測到氟（F）、氧(O)和碳(C)元素，從而可靠地鑒別這兩種礦物。

2、在孔徑管理系統(tǒng)（AMS）下分析電路板

M4 TORNADO PLUS 所具備的孔徑管理系統(tǒng)（AMS）能夠有效提高景深和空間分辨率，景深可達±5mm。這意味著即使樣本表面高度在幾毫米內(nèi)變化，空間分辨率也不會受損，并且始終保證聚焦樣品特征處。這使得本設(shè)備在面對一些對表面分析有更高要求的行業(yè)樣本時更具優(yōu)勢，例如電子學(xué)，刑偵或地球科學(xué)等。

由于AMS的場深度極深，如圖所示電路板的X射線圖像獲得更多的細節(jié)。此外，由于激發(fā)X射線光子的入口和出口角度減小，光束能量依賴性變得不那么明顯

更多應(yīng)用案例

M4 Tornado 系列的微區(qū)X射線熒光光譜儀具有廣泛的應(yīng)用環(huán)境，目前已經(jīng)在植物環(huán)境、科技考古、地球科學(xué)、材料科學(xué)、生物工程等領(lǐng)域有著諸多的應(yīng)用案例。該設(shè)備在國內(nèi)外有專業(yè)的應(yīng)用開發(fā)人員，專注于新應(yīng)用領(lǐng)域的開發(fā)。