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X射線熒光光譜儀簡介：
Zetium 包含了 SumXcore 技術，它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 這種功能組合使 Zetium 在多種環境下擁有高分析能力、速度和任務靈活性。
Zetium 配備了我們新版本的 SuperQ 軟件（包括 Virtual Analyst），可幫助非專家用戶輕松地設置應用程序。 針對特定分析提供了廣泛的附加軟件模塊，例如無標分析、地質痕量元素、潤滑油中的基體校正以及薄膜分析。
針對特定行業提供了 Zetium XRF 光譜儀行業版：水泥、礦物、金屬、石化產品以及聚合物和塑料。另外提供可滿足各行業嚴苛要求的高配置版本：Zetium高配置版。 Zetium 平臺的模塊化設計允許通過各種軟件包來實現以任務為導向的性能增強。 馬爾文帕納科提供了一系列集成解決方案；從連接樣品制備裝置的簡單接口，到將多個分析儀器集成到單一容器實驗室中的全自動項目。
基本創新
連續開發、不斷改進的客戶體驗將 SumXcore 技術（WDXRF與EDXRF 的集成）所帶來的符合科學原理的優勢驅動型創新融合到 Zetium 平臺中，帶來更高靈活性、高性能和多功能性。
基本情報
我們的 SuperQ 軟件帶來了新的技術組合和分析功能。 以 Virtual Analyst 為例，它優化了用戶在設置和操作系統方面的體驗。
基本支持
無論在何處，都能獲得信息透明且可靠的支持
從服務到專業知識，從培訓到實驗室分析，可為用戶提供支持。 通過遍布工程師網絡，馬爾文帕納科隨時準備好幫助您滿足分析需求。
基本技術
60 年的經驗和傳承
Zetium 是 WDXRF 光譜儀（包括 Axios、MagiX 和 PW2400）中的新一代產品。 傳承下來的成熟技術經過優化和發展，為 Zetium 平臺打下了堅實的基礎。
X射線熒光光譜儀特點：
增強的分析性能
從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級可增強靈敏度
一系列 X 射線光管陽極材料（銠、鉻、鉬和金）可確保發揮特定應用性能
用于增強靈敏度和加大過渡金屬分析動態范圍的復合探測器
用于擴大的重元素動態范圍（線性高達 3.5 Mcps）的 HiPer 閃爍探測器特別適合對鋼中的鈮和鉬進行高精度分析
出色的用戶體驗
Virtual Analyst 提供簡潔、直觀的軟件
整套應用程序設置模塊和軟件解決方案
使用無標 XRF 分析，對未知材料進行分析，或者在沒有標準的情況下進行分析
多元素微小區域分析
可編程的面罩，適合的樣品尺寸為 6 mm 至 37 mm
顯著提升樣品處理量
SumXcore 技術 - 利用 ED core（能譜核）將測量時間縮短多達 50%
從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級可加快分析速度
Hi-Per 通道可實現對輕元素的同步測量
連續和直接進樣可大大縮短儀器的進樣時間
高容量進樣器臺（最多 209 位）可滿足高處理量應用需求
進樣器條形碼閱讀器選項可實現快速、*的樣品裝載和數據錄入
可靠性
除塵設備可盡量減少污染，并能夠大大提升儀器的正常運行時間
用于提高 X 射線管耐用性和耐腐蝕性的 CHI-BLUE X 射線管窗涂層
樣品類型識別（固體和液體）
條形碼閱讀器可實現無差錯的樣品數據錄入
儀器的擁有成本低
節省空間的緊湊型設計
小體積空氣鎖設計 - 用于將樣品快速循環到真空中，或對液體分析實現低氦氣消耗
便于檢修的服務模塊意味著更高的儀器可維修性和更短的停機時間
制冷機可從實驗室帶走熱量 - 避免實驗室空調基礎設施負荷過重
可節省成本的成套解決方案
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