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反射膜厚儀MProbe VisMProbe Vis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。

反射膜厚儀MProbe UVVisSRMProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。

反射膜厚儀MProbe RT該機大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。

反射膜厚儀MProbe NIR采用近紅外光譜（NIR）的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域，比如在可見光范圍內有吸收的太陽能薄膜（CIGS,...

顯微反射膜厚儀MProbe MSPMProbe MSP顯微薄膜測厚儀適用于實時在線測量，多層測量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫（超過500材料），新材料可以...

涂層測厚儀SURFIX®X系列測量儀器: 彩屏, PC 連接，易操作,以及適合PHYNIX探頭

涂層測厚儀SURFIX®系列用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍以及陽氧化涂層的快速測量

涂層測厚儀SURFIX®簡易系列Surfix® 簡易系列的測量探頭均由硬質合金制成，這意味著它具有幾乎無限的使用壽命。

便攜式涂層測厚儀PaintCheck不能測量涂層的厚度，也能提供有關涂層結構的有價值信息

涂層測厚儀 探頭我們提供多種不同的儀器和探頭，幾乎能夠測量金屬材料的涂層厚度。

馬爾文帕納科納米粒度電位儀馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統，在結合了 Zetasiz...

馬爾文帕納科等溫滴定微量熱儀MicroCal PEAQ-ITC 是一款高靈敏度、低容量的等溫滴定微量熱儀，可用于生物分子相互作用的無標記溶液內研究。 它可以在單...

馬爾文帕納科微量熱差示掃描量熱儀MicroCal PEAQ-DSC Automated 微量熱差示掃描量熱儀系統為自動化、集成式平臺，樣本量消耗低，可提供高通量...

馬爾文帕納科微量熱差示掃描量熱儀MicroCal PEAQ-DSC微量熱差示掃描量熱儀提供靈敏度高、易于使用的微量熱法，幫助減少與穩定性試驗和相似性分析相關的時...

馬爾文帕納科激光粒度儀Mastersizer 3000E馬爾文帕納科激光粒度儀有些客戶眼下并不需要Mastersizer 3000所提供的高級功能，入門級儀器馬...

馬爾文帕納科納米顆粒跟蹤分析儀馬爾文帕納科納米顆粒跟蹤分析儀Nanosight LM10系統是高靈敏度檢測系統-利用NTA顆粒跟蹤技術分析顆粒的粒徑和計數。典型...

馬爾文帕納科納米顆粒跟蹤分析儀馬爾文帕納科納米顆粒跟蹤分析儀NS300采用整體設計，具有對帶熒光標記的顆粒進行檢測的功能。NS300可以對于懸浮液中粒徑范圍在1...

馬爾文帕納科粒度粒形及成分特性分析儀Morphologi 4-ID 結合了Morphologi 4自動靜態成像的各項優勢，并可通過拉曼光譜技術（MDRS）在一次...

馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀是一款功能強大、用途廣泛的常規實驗室測量解決方案，可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷...

馬爾文帕納科激光粒度儀Mastersizer 3000 馬爾文帕納科激光粒度儀可為干濕法分散提供快速、便捷的粒徑分布測試。 該分析儀可在納米至毫米粒度范圍內進行...