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CYD-3000型交流磁粉探傷儀為移動(dòng)式多功能磁粉探傷機(jī)。該磁粉探傷機(jī)可對(duì)工件進(jìn)行交流磁化和自動(dòng)退磁，退磁電流自動(dòng)衰減到零，不需另設(shè)退磁裝置。充磁電流、退磁電流...

CYD-5000(CYD-3000)型交流磁粉探傷儀是根據(jù)JB8290-1998《磁粉探傷機(jī)》標(biāo)準(zhǔn)制造。CYD-3000/5000型交流磁粉探傷儀是移動(dòng)式多用磁...

CG-90型是研制成的干型耦合劑，保存方便使用時(shí)用水配制，聲耦合性能好，無(wú)毒、無(wú)味、無(wú)腐蝕，不沾污操作人員的皮膚和衣服，再垂直壁體上不會(huì)流失，操作方便。適用于鍋...

磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向、有效檢測(cè)區(qū)以及磁化方法是否正確。

型靈敏度試片Z先由日本無(wú)損檢測(cè)學(xué)會(huì)提出，以后為多個(gè)國(guó)家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對(duì)幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查...

M1型磁粉檢測(cè)試片試片用于連續(xù)法磁粉探傷時(shí)，驗(yàn)證工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的大小與方向，驗(yàn)證磁粉探傷的綜合性能。

A型靈敏度試片Z先由日本無(wú)損檢測(cè)學(xué)會(huì)提出，以后為多個(gè)國(guó)家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對(duì)幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢...

D型磁粉靈敏度試片系本公司按JB/T4730.4-2005中D型試片的要求制作D型磁粉靈敏度試片用于連續(xù)法磁粉探傷時(shí)，驗(yàn)證工作表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的方向與大小，驗(yàn)證磁粉...

N1型提升力試塊規(guī)格為:45牛頓,約5KgN2型提升力試塊規(guī)格為:118牛頓,約12KgN3型提升力試塊規(guī)格為:177牛頓,約18Kg

N1型提升力試塊規(guī)格為:45牛頓,約5KgN2型提升力試塊規(guī)格為:118牛頓,約12KgN3型提升力試塊規(guī)格為:177牛頓,約18Kg

N1型提升力試塊規(guī)格為:45牛頓,約5KgN2型提升力試塊規(guī)格為:118牛頓,約12KgN3型提升力試塊規(guī)格為:177牛頓,約18Kg

TD型 磁場(chǎng)指示器(亦稱八角試塊)，是用電爐銅焊將八塊低碳鋼與銅片焊在一起構(gòu)成的，有一個(gè)非磁性的手柄，用途與標(biāo)準(zhǔn)試片基本相同，但比試片經(jīng)久耐用，操作簡(jiǎn)便。

B型 直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊(亦稱12孔試塊)或直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊，直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊在美國(guó)稱BETZ環(huán)同效，用AISI01克托斯鉻鎢錳工具鋼制成，洛氏硬度HRC=90～...

E型磁粉探傷試塊(3孔試塊)與日本B型試塊接近。交流環(huán)形試塊的鋼環(huán)用含碳量不大于0.15％的軟鋼制成，鋼環(huán)用膠木做襯墊，套在銅棒上，鋼環(huán)上鉆有直徑1mm的3個(gè)孔...

缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場(chǎng)件號(hào)：519630 型號(hào)：KSC-230件號(hào)：521048 型號(hào)：KSC-430說(shuō)明：標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚...

缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場(chǎng)件號(hào)：519630 型號(hào)：KSC-230件號(hào)：521048 型號(hào)：KSC-430說(shuō)明：標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚...

與KSC-230相似，于工件上的小區(qū)域，每片四個(gè)圓，可切割開，單獨(dú)使用件號(hào)：519631型號(hào)：KSC-4-230說(shuō)明：小型I試片，每片試片有4個(gè)基圓，缺陷深度為...

不同深度的I試片用于定量要求更高的作業(yè)，缺陷呈三個(gè)不同深度的同心圓環(huán)型號(hào)：KSCT-234說(shuō)明：不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%，...

型號(hào)：KSC4-234不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%試片厚度為0.004英寸

八角試塊檢測(cè)鐵金屬的缺陷時(shí)，八角試塊有助于確定磁場(chǎng)強(qiáng)度的方向。