產品簡介
詳細介紹
QNIX4200P涂層測厚儀
QNIX4200P涂層測厚儀是一款外接探頭的涂層測厚儀,跟老款QNIX4200功能一樣,只是探頭是分體式設計。
QNIX4200P涂層測厚儀特點:
只需調零、無需校準
Fe探頭
分體化設計
自動開關機
技術參數:
技術參數:
型 號 | 4200 | 4200P |
基 體 | Fe | Fe |
探頭形式 | 一體 | 分體 |
顯 示 | LCD數字顯示 | |
測量范圍 | Fe:0-3000μm Fe:0-5000μm | Fe:0-3000μm Fe:0-5000μm |
測量精度 | 0-50μm:≤±1μm,50-1000μm:≤±1.5%,1000-2000μm:≤±2%, 2000-5000μm≤±3% | |
顯示精度 | 0-99μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm | |
工作溫度 | -10 - +60℃ | |
溫度補償 | 0-50℃ | |
小基體 | 10mm×10mm | |
小曲率 | 凸、凹半徑:3mm/25mm | |
薄基體 | Fe:0.2mm,NFe:0.05mm | |
電 源 | 5號電池2節 | |
重 量 | 110g | |
尺 寸 | 110×60×27mm |