HAG-2000 基準(zhǔn)級光澤度儀
變角度測量,不確定度滿足國家基準(zhǔn)級要求
典型應(yīng)用場景
HAG-2000是實(shí)現(xiàn)基準(zhǔn)級光澤度絕對和相對測量的科學(xué)級儀器,主要用于光澤度標(biāo)準(zhǔn)板檢定,光澤標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)量值傳遞。可精確測量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值,以及絕對鏡面反射率分布曲線。
HAG-2000 基準(zhǔn)級光澤度儀
變角度測量,不確定度滿足國家基準(zhǔn)級要求
典型應(yīng)用場景
HAG-2000是實(shí)現(xiàn)基準(zhǔn)級光澤度絕對和相對測量的科學(xué)級儀器,主要用于光澤度標(biāo)準(zhǔn)板檢定,光澤標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)量值傳遞。可精確測量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值,以及絕對鏡面反射率分布曲線。絕對測量方式避免了相對測量中因標(biāo)準(zhǔn)板和被測板鏡面反射率空間分布差異所導(dǎo)致的測量誤差,測量更加可靠,系統(tǒng)角度精度高、測量重復(fù)性好。
主要特點(diǎn)
1、光澤度測量不確定度U≤0.7,(k=3),滿足JJG 2069光澤度基準(zhǔn)要求。
3、采用精密對準(zhǔn)裝置實(shí)現(xiàn)角度精確定位,角度精度高達(dá)0.01。
4、探測器接收立體角參考ISO,ASTM,GB,TAPPI, JIS等國際標(biāo)準(zhǔn)的測量幾何要求設(shè)計(jì),精確接收鏡面反射光。
5、內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)裝置,可隨時(shí)校正和校零,使測試更精確。
6、光源與探測器通過濾色片精確匹配CIE C光源和CIE光視效率函數(shù)V(λ)。
7、掃描各角度的反射率分布曲線,還可以比較標(biāo)準(zhǔn)和被測樣品的表面分布差異。