臺式薄膜測厚儀 薄膜自動厚度測量儀,CHY-U臺式薄膜測厚儀標準量塊標定,方便用戶快速標定設備，配備自動進樣器，可一鍵實現全自動多點測量，誤差小；儀器在提供測試結果圖形統計分析的同時，配備微型打印機，可自動保存并且打印多達100組測試結果。除此之外，儀器還配備RS232接口，方便實驗數據和結果的分享。
臺式薄膜測厚儀 薄膜自動厚度測量儀
規格：CHY-U
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在工業中，薄膜是一種使用非常頻繁的材料，而且廣泛應用于工業中的各個方面，如產品包裝、電子生產等。在薄膜中，厚度是否均勻是衡量其質量的重要標準，因為如果薄膜厚度不均，不但會影響到薄膜的拉伸強度、阻隔性等，還會影響到薄膜的后續加工。
對于微電子薄膜、光學薄膜等，薄膜的厚度還直接關系到薄膜材料能否正常工作；另外，大規模集成電路中的薄膜，如果厚度發生變化，會直接影響到電路的性能。除此之外，薄膜材料的力學性能，透光性能，磁性能，熱導率，表面結構等都與厚度密不可分。為此，需要對薄膜的厚度測量。
臺式薄膜測厚儀 薄膜自動厚度測量儀
CHY-U臺式薄膜測厚儀是濟南三泉中石實驗儀器根據GB/T6672 《塑料薄膜和薄片厚度測定-機械測量法》、ISO4593《塑料薄膜和薄板機械掃描測定厚度》等標準研發生產的厚度測量儀器，廣泛適用于2mm范圍內各種薄膜、復合膜、紙張、金屬箔片等硬質和軟質材料厚度準確測量。
CHY-U臺式薄膜測厚儀標準量塊標定,方便用戶快速標定設備，配備自動進樣器，可一鍵實現全自動多點測量，誤差小；儀器在提供測試結果圖形統計分析的同時，配備微型打印機，可自動保存并且打印多達100組測試結果。除此之外，儀器還配備RS232接口，方便實驗數據和結果的分享。
技術參數
測量范圍 ： 0-2mm （其他量程可定制）
分辨率： 0.1um
測量速度： 10次/min（可調）
測量壓力： 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）
接觸面積： 50mm²（薄膜），200mm²（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種
進樣步矩： 0 ～ 1300 mm(可調)
進樣速度： 0 ～ 120 mm/s(可調)
機器尺寸： 450mm×340mm×390mm (長寬高)
重 量： 23Kg
工作溫度： 15℃-50℃
相對濕度： ≤80%,無凝露
試驗環境： 無震動，無電磁干擾
工作電源： 220V 50Hz
注：以上價格僅供參考，如需了解詳情或詳細價格，敬請致電濟南三泉中石。
