濟南三泉中石實驗儀器有限公司研發(fā)生產(chǎn)了包裝薄膜厚度測量儀,薄膜測厚儀性價比高,價格便宜。
包裝薄膜主要是起著產(chǎn)品保護作用,商家為了方便運輸,往往在產(chǎn)品上包裹上一次薄膜。包裝薄膜的厚度不均勻的話就可能對薄膜的物理性能造成影響。為了保證運輸包裝的可靠性,濟南三泉中石實驗儀器有限公司研發(fā)生產(chǎn)了包裝薄膜厚度測量儀。
一個小小的塑料包膜,如果薄膜的整體厚度均勻性差,其中各層樹脂的厚度分布也會存在差異。毫無疑問,對涂層厚度的檢測將更有利于有效控制薄膜各層的厚度均勻性,但對于多層薄膜若想精確測量每一涂層的厚度,在相應(yīng)的厚度檢測設(shè)備上就需要有非常大的投資,并隨著薄膜層數(shù)的增長而加大,給企業(yè)帶來較大的經(jīng)濟負擔。濟南三泉中石實驗儀器有限公司的性價比高,價格便宜,是理想的檢測設(shè)備。
技術(shù)參數(shù)
測量范圍:0-2mm (其他量程可定制
分辨率:0.1um
測量速度:10次/min(可調(diào))
測量壓力:17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(紙張)
接觸面積:50mm2(薄膜),200mm2(紙張) 注:薄膜、紙張任選一種
進樣步矩:0 ~ 1300 mm(可調(diào))
進樣速度:0 ~ 120 mm/s(可調(diào))
機器尺寸:450mm×340mm×390mm (長寬高)
重量:23Kg
工作溫度:15℃-50℃
相對濕度:zui高80%,無凝露
試驗環(huán)境:無震動,無電磁干擾
工作電源:220V 50Hz
滿足GB/T6672(塑料薄膜與薄片厚度的測定機械測量法)、GB/T451.3(GB/T451.3紙張和紙板厚度測定方法)、GB/T6547(瓦楞紙板的厚度測量準則)、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4 817GB/T 6618-2009《硅片厚度和總厚度變化測試方法》 等各項國家標準要求。