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詳細摘要： 德國札納Zennium XC 是一款具有超高靈敏度和高準確度的電化學工作站，其交流阻抗（EIS）頻率范圍為10uHz-5MHz。Zennium XC采用了32位高精度，高分辨率模擬/數字信號轉換器，具有HDP高動態范圍技術，掃描電壓范圍為14V。并配置了可切換的浮地技術，這樣 Zennium XC 便可以應用于地下管線和高壓釜等方面的研究。具有ADF高速選件，CV掃速可達10000V/s

詳細摘要： Zennium X 是札納公司最新型最高規格的電化學工作站。Zennium X 具有以下技術特點：超高精度和分辨率的恒電位儀/恒電流儀，10uHz-12MHz交流阻抗（EIS）頻率范圍，*的32bit高動態模擬/數字信號轉換技術（HDP），±4A最大電流，±15V的應用電壓，超過10TΩ輸入阻抗以及可切換的接地/浮地技術。Zennium X 采用模塊化設計技術，隨時可以進行擴展升級。例如擴展

詳細摘要： Zennium pro電化學工作站是札納公司的新型產品，是一款集恒電位儀、恒電流儀、頻響分析儀為一體模塊化設計的高規格電化學工作站。Zennium pro 具有以下技術特點：超高精度和準確度的恒電位儀，10uHz-8MHz交流阻抗（EIS）頻率范圍，*的32bit高動態模擬/數字信號轉換技術（HDP），±3A最大電流，±15V的應用電壓，超過10 TΩ輸入阻抗以及可切換的接地和浮地技術，

詳細摘要： CIMPS-mDTR動態/靜態透射譜測試系統用于電子顯示器、智能玻璃、電子報紙和電致變色器件的研究的電控制吸收光譜。對大多數應用來說，除了顏色變化以外，重要的是動態特性的變化。如開關時間對顯示器和調制控制是非常重要的，智能玻璃的反應時間是根據物質傳輸過程、氧化還原反應過程或者物質結構重組過程等動態特性來確定的，這些變化均會產生光學變化。

詳細摘要： CIMPS-abs光電化學透射/吸收光譜測量系統可以獲得不同電壓和電流下的光電材料吸收光譜圖。電化學工作站控制吸收光譜測試的過程中施加到測試體系上的電壓或電流。高能量的LED 或者是鎢燈、氙燈作為CIMPS-abs光源，通過外置的恒電位儀控制光源，并由反饋系統控制光源的穩定性，通過參比電化學池和測試電化學池對比獲得吸收光譜。整個實驗過程都是通過Zahner 的Thales軟件來控制。

詳細摘要： CIMPS-fit 瞬態光強度變化測試系統對IMPS和IMVS頻域變量所產生的動態響應信號與時間域瞬態響應信號做線性相關分析，通常會帶來顯著地優勢。對于高速響應過程如以硅為基底的材料或單晶硅半導體太陽能電池，或由于在有機太陽能電池內具有薄層結構，有效彌補了標準的CIMPS軟件中瞬態響應功能的時間分辨率低的問題，有效提供了瞬態響應信號測量，將時間測量分辨率達到50ns。

詳細摘要： 但是在光電化學循環伏安測試實際測試體系情況下，由于電解液存在一定的電阻 Ru，Ru 是參比電極到工作電極表面電雙層（double layer）一邊的溶液電阻。根據歐姆定律，這個 Ru 就會產生一定壓降，壓降的大小為 Vir= I*Ru。這樣就造成工作電極上的實際電壓和相對參比電極而施加的電壓有所不同。如圖二所示。

詳細摘要： 交流阻抗譜（EIS）是一種強大的工具，可以在很寬的頻率范圍內得到測試樣品的阻抗特性譜。這是通過在樣品上施加具有特定頻率范圍的正弦 AC 電壓激勵信號并測量產生的電流響應來完成。該響應電流也是正弦信號，但由于響應時間延遲，其相位和施加的電壓相位有差別

詳細摘要： 德國Zahner（札納）電化學工作站ZENNIUM X是Zahner公司的型產品，是一款集恒電位儀、恒電流儀、頻響分析儀一體的模塊化的電化學綜合測試儀。此型號具有超低噪音的恒電位儀，Z高12MHz寬頻域頻譜分析儀，*的32bit高分辨率數字/模擬信號轉換，電流Z大可達±4A，應用電壓高達±15V，輸入阻抗超過10 TΩ，并且可切換的接地/浮地設置。

詳細摘要： 德國札納公司的 CIMPS-QE/IPCE光電轉化效率測試儀使用可變波長的，可溯源的LED調制光源系統，不使用機械斬光器和對噪聲信號敏感的鎖相放大器技術，并采用閉環控制技術，能夠自動測量430nm-720nm，365–1020 nm，295 – 1020nm波長范圍內的太陽能電池的光電流譜和光電轉化效率、量子效率等方法。

詳細摘要： CIMPS可控強度調制光電化學譜儀 IMPS / IMVS采用閉環控制技術調節和調制光強和調制, 從而保證了光源的穩定性. 在儀器匹配的光源內裝有光強傳感器, 工作時系統自動比較并計算測得的實際光強與設定值的偏差并加以校正,這樣就消除了由于光源器件的非線性、老化、以及溫度漂移產生的光強輸出誤差。不僅如此，儀器還允許直接輸入單位為（W/cm2）的具體數值校正光源，非常方便。

詳細摘要： CIMPS-emit光電化學發射測試系統附加UV-VIS-IR光譜儀來實現光譜分辨率的發射光譜測量。對于整體發射光測量，需另外配NIST追蹤標定的光強檢測器。CIMPS-emit可自動測量系列光譜，光譜系列對電壓、電流、時間變化進行測量，也可對其它物理量變化進行系列測量如：溫度、電壓和pH等。當然，也可以在控制電化學參數的同時，手動觸發測量發射光譜。光譜分析軟件包支持單個/多個2D或3D圖譜分析