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尼康共聚焦顯微鏡特惠*，折扣享不停！
【產品名稱】：C2+/C2si+共聚焦顯微鏡系統

【產品型號】：C2+/C2si+

產品簡介：

實驗室*顯微設備

2+共聚焦顯微鏡系統是新研發的Nikon 共聚焦儀器的一部分，新開發的產品為必要的實驗室顯微鏡工具。由于產品有令人難以置信的穩定性，操作簡易，且有*的光學性能和高速圖像采集（可達100  幀/秒*）能力。 C2+可作為出色顯微鏡工具（新購置），或將已有的尼康顯微鏡升級為C2+共聚焦系統。

配置Ni-E正置顯微鏡

產品性能和特點：

1、圖像質量

Nikon的光學組件和久經考驗的高效光學設計可在較為遠的工作距離下提供較為明亮與較為清晰的圖像。
 

•高效掃描頭和檢測器

具備方便小巧的掃描頭， 使C2+可用于各類Nikon 顯微鏡。C2+使用高精度振鏡與圓形光學針孔，分離式檢測有效隔離熱原同噪音，可獲取低噪音，高對比度與高品質的共聚焦圖像。新開發的掃描驅動系統和Nikon*的圖像校正技術，允許8幀/秒（512 x 512像素）和100幀/秒（512 x 32 像素）的高速成像。

尼康C2+/C2si+共聚焦顯微鏡_熒光共聚焦顯微鏡_激光共聚焦顯微鏡

•高性能光學鏡頭   

CFI復消色差λS系列

此系列高數值孔徑（NA）物鏡為共聚焦拍攝的理想之選，其對寬波長范圍自紫外光具有色差校正功能。尤其是LWD 40 ×WI物鏡色差校正可達紅外范圍。使用Nikon*的納米晶體涂層技術可有效增加光線透過率。

CFI復消色差TIRF 系列 

此系列物鏡的NA值為1.49 （使用標準的蓋玻片和浸油），在Nikon物鏡中具備較為高的分辨率。配備溫度校正環可在23°C～37°C溫度范圍對圖像質量進行校正。

•高清晰度微分干涉（DIC）圖像

C2+能同時獲得三個通道的熒光，或同時實現三通道熒光與透射微分干涉（DIC）的觀察。高品質DIC圖像和熒光圖像可以疊加,以便進行形態分析。

2、高功能            

高效圖像處理軟件NIS-Elements提供各種圖像處理和分析功能。并可從圖像中提取數據。此外，NIS-Element 可實現Nikon 顯微鏡和其他第三方外設，如EMCCD相機和濾光輪的直接操作，使其可適用于各類實驗應用。

•多種拍攝模式   

單一軟件包即可提供各種成像方法，如共聚焦、寬視野、TIRF 、光活化，并同時具有圖像的處理、分析和呈現的功能。用戶可在統一的界面與工作流程中輕松掌握控制不同的成像系統。  

3、靈活性           

C2+可與正置、倒置、電生理和宏觀成像顯微鏡聯合使用，且可以與各種高質量研究試驗系統聯合使用。可用NIS-Element 軟件控制所有的尼康顯微鏡系統。

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• TIRF/光活化-C2+多模式成像系統

可整合選配的TIRF 激光照明模塊和與光活化模塊，實現高S/N比單分子成像，并捕捉光活化與光轉化中熒光蛋白熒光特征變化圖像。

• AZ-C2+宏觀共聚焦系統

在高清晰度的大視野下，*過1 cm的大樣本都可獲取高S/N比的圖像。AZ-C2+可獲取完整樣品的圖像，如胚胎，單次拍照，高達2048×2048像素分辨率，并可使用C2si+獲得32通道光譜數據。可將低倍率與高倍率物鏡，光學變焦和共焦掃描變焦功能相結合，從宏觀到微觀連續成像。

上海巴玖公司簡介：

上海巴玖實業有限公司于2007年組建實驗室儀器配套儀器設備供應鏈，公司實力雄厚、管理科學、質量保證，售后完備、信譽至上。

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