Anritsu MT9820A 全波段的光器件測(cè)試儀
詳細(xì)資料:
產(chǎn)品簡(jiǎn)介 |
傳統(tǒng)的光器件和光模塊的光損耗測(cè)試一般有兩種模式:采用自己搭建的步進(jìn)式測(cè)試方案或完整的集成式掃描系統(tǒng)。前者由于自身系統(tǒng)的限制,很難滿足光傳遞功能連續(xù)掃描測(cè)試的需求;而后者盡管在性能上可以得到保障,但是由于系統(tǒng)的價(jià)格和難以擴(kuò)展,也很難被用戶所接受。 MT9820A采用良好的設(shè)計(jì)理念,克服了兩種測(cè)試方法的缺點(diǎn),形成了業(yè)界zui為綜合的、緊湊式的低價(jià)格的寬波長(zhǎng)范圍的光損耗測(cè)試方案,可進(jìn)行寬譜范圍內(nèi)的光器件和光模塊的精確的光功率、光波長(zhǎng)、光損耗和光的偏振測(cè)試。 |
主要特點(diǎn) |
|