產品描述：
MX61L/ MX61,300mm/200 mm半導體檢査顯微鏡通過各種觀察方法--明視場法、暗視場法、微分干涉法(DIC)、熒光法、紅外線法和深紫外線法，保證了的圖像分辨率和鮮明度。
半導體晶圓檢查顯微鏡（Zui大200mm)，這款顯微鏡的孔徑光闌與物鏡相互聯鎖，能夠快速、精確地完成檢查。設計符合人體工程學原理，使用起來舒適、自如。符合SEMI S2/S8，擁有安全性與可靠性雙重保障。
特點：
MX61系列顯微鏡符合SEMI S2/S8、CE和UL等多項國際規范和標準
半導體晶圓與平板顯示器檢查顯微鏡
專為無塵室生產環境設計
擁有多項專門設計的性能，以符合無塵室要求
防靜電保護功能，防止晶圓污染
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