主要特性與技術指標
- Built-in test applications
- 10 pm wavelength accuracy
- Fast dual-sweep method
- Covers S, C, and L wavelength bands
- Agilent/安捷倫
- 其他品牌
- KEYSIGHT/美國是德
- TeKtronix/美國泰克
- FLUKE/福祿克
- 泰克
- R&S/羅德與施瓦茨
- YOKOGAWA/日本橫河
- Santec/日本
- Keithley/美國吉時利
- Anritsu/安立
- OLYMPUS/奧林巴斯
- 美國力科
- BCHP/中惠普
- ADCMT/愛德萬
- SRS/斯坦福
- FUJIKURA/藤倉
- KIKUSUI/日本菊水
- Ceyear/思儀
- Newport/美國
- HIOKI/日本日置
- RIGOL/普源
- Bruker/布魯克
- GWINSTEK/中國臺灣固緯
- XINGZHOU/興洲
- HACH/哈希
- Bristol/美國
- SHIMADZU/島津
- Waters/沃特世
- PICOTEST/中國臺灣儀鼎
- UNI-T/優利德
- BIRD/美國鳥牌
- 古河蓄電池
- Mettler Toledo/梅特勒托利多
- OMRON/歐姆龍
- SPECTRUM/上海光譜
- TIMEPOWER/時代新維
- 智云達
- Ophir
- EXFO/加拿大
- SPIRENT/思博倫
- 中國臺灣博計
- Adixen/阿爾卡特
- Siemens/西門子
- AP（Audio Precision）/美國
- 同惠電子
- Chroma/致茂
- HAMEG/德國惠美
- ITECH/艾德克斯
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