目錄:天津市拓普儀器有限公司>>物理教學(xué)儀器>>工程光學(xué)>> WSG-1型電子散斑干涉(ESPI)實(shí)驗(yàn)裝
產(chǎn)品詳細(xì)資料
本實(shí)驗(yàn)裝置主要面向大專院校教學(xué)使用。本實(shí)驗(yàn)是用激光光束直接照射到測試表面,再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋,以測定其離面位移的新型,先進(jìn)的測試技術(shù)。本實(shí)驗(yàn)裝置可以使學(xué)生了解其原理和測量的方法。
該實(shí)驗(yàn)裝置具有機(jī)構(gòu)簡單、精度高、靈敏性好、非接觸、無需暗房操作,實(shí)時(shí)顯示全場信息及處理信息快等優(yōu)點(diǎn),故而應(yīng)用廣泛,如物體形變測量、無損測量、震動測量等。
CCD攝像機(jī)(帶電源)、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調(diào)整架、分束鏡、擴(kuò)束鏡、準(zhǔn)直鏡、聚焦透鏡、平面反射鏡、偏振片、被測物品等
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