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四探針探頭的選擇

時間：2018/3/12閱讀：5583
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四探針電阻率方阻測試︱四探針探頭的選擇

 

四探針電阻率方阻測試︱四探針探頭的選擇：

四探針探頭是四探針法測試電阻率/方阻測試系統的關鍵部件。探頭通過四根探針，以適當的壓力和點陣形式與樣品接觸，連接四探針儀器后，實現四探針法電流的加載，電壓的取樣。應根據樣品的物理特性，如是固體還是粉末，是一般硅片、金屬等硬質材料還是柔性薄膜、涂層、ITO膜類材料，是單一導電層材料還是復合導電層，樣品的尺寸大小等條件來選擇探頭的壓力和點陣形式，選擇型號。 

表2《四探針探頭型號規格特征選型參照表》

序號

型號

名稱

特征圖片

規格參數

選用場合

1

 

ST2253-F01

鎢針直線四探針探頭

http://www.jgdz.com.cn/upLoad/New/2013-4/201342821957196.jpg  

  直線四探針針距：1+1+1，探針：碳化鎢針

硅片、金屬等硬材料電阻率/方阻測試

2

 

ST2558A-F01

光伏電池片方阻直線四探針探頭

http://www.jgdz.com.cn/upLoad/New/2013-4/2013428211518553.jpg

直線四探針針距：2+2+2，探針：長鋼尖針

硅材料光伏電池片方阻測試

3

 

ST2558A-F02

薄膜方阻刀型測試臺

http://www.jgdz.com.cn/upLoad/New/2013-4/2013428211929781.jpg

刀型測試臺刀距100，刀寬100

柔性薄膜、金屬涂層膜方阻測試

4

 

ST2558B-F01

薄膜方阻直線四探針探頭

http://www.jgdz.com.cn/upLoad/New/2013-4/2013428212019667.jpg

直線四探針針距：2+2+2，探針：鍍金磷銅半球形針尖

柔性薄膜、金屬涂層膜、ITO膜電阻率/方阻測試

 

5

 

ST2558B-F02

箔上涂層電阻率方阻四端子探頭

http://www.jgdz.com.cn/upLoad/New/2013-4/2013428212128748.jpg

針距8，直徑4探針：圓柱平端面

 

箔上涂層電阻率/方阻測試

 

6

 

ST2558B-F03

薄膜方阻直線四探針探頭

 http://www.jgdz.com.cn/upLoad/New/2013-4/2013428212328313.jpg

直線四探針針距1+1+1，探針：鍍金磷銅半球形針尖

柔性薄膜、金屬涂層膜、ITO膜電阻率/方阻測試

 

7

 

ST2571A-F01

薄膜方阻矩形四探針探頭

 

矩形四探針針距1X1探針：碳化鎢針

硅片電阻率和方阻儀

 

8

 

ST2571A-F02

薄膜方阻矩形四探針探頭

http://www.jgdz.com.cn/upLoad/New/2013-4/201342821250714.jpg

矩形四探針針距1X1探針：鍍金磷銅半球形針尖

柔性薄膜、金屬涂層膜、ITO膜電阻率/方阻測試

 

9

 

ST2571A-F03

薄膜方阻矩形四探針探頭

http://www.jgdz.com.cn/upLoad/New/2013-4/201342821269346.jpg

矩形四探針針距2X2探針：鍍金磷銅半球形針尖

柔性薄膜、金屬涂層膜、ITO膜電阻率/方阻測試

 

  

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