性能特點

xrf膜厚測試儀

器定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

應用領域

XRF膜厚測試儀

應用于金屬鍍層的厚度（鍍銀、鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍鉻、鍍鈀等）測量、電鍍液和鍍層含量的測定,端子連接器、LED、半導體、衛浴潔具、PCB、電子電器、氣配五金、珠寶首飾、汽車配件、制冷設備、檢測機構以及研究所和高等院校等衛浴等行業。

標準配置

xrf膜厚測試儀器開放式樣品腔，滿足大樣品測試

精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護傳感器