目錄:先鋒科技(香港)股份有限公司>>影像采集>>定量位相成像>> Omni-TAM900寬場飛秒瞬態吸收成像系統
成像方式 | 計算機層析 | 工作原理 | 其他 |
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價格區間 | 200萬-500萬 | 使用狀態 | 地面 |
應用領域 | 環保,電子,綜合 |
背景介紹—瞬態吸收光譜和瞬態吸收成像的應用
儀器基本功能和性能:儀器具有點泵浦-寬場探測,和寬場泵浦-寬場探測兩種工作模式。分點泵浦模式可用于測量載流子遷移和熱導率等;寬場泵浦模式可用于測量載流子分布和物理態的空間異質性等。
Omni-TAM900寬場飛秒瞬態吸收成像系統原理如下圖所示,經過飛秒激光器和光學參量放大器(OPA)之后出來的飛秒激光,通過顯微鏡的光學系統進入,并作為泵浦光源激發樣品,而另一束經過空間調制的探測光在一定的時間延遲之后也經過顯微系統到達樣品,樣品在激發態對探測光產生的吸收情況會被顯微鏡上的sCMOS 相機記錄下來。通過調節光學延遲線(Optical Delay Line),得到樣品在不同延遲時間下的sCMOS圖像。
Omni-TAM900 可以有兩種成像模式(如下圖所示): 聚焦泵浦光模式(點泵浦,寬場探測)和寬場泵浦光模式(寬場泵浦、寬場探測),前者主要用于研究載流子的遷移,后者用于檢測載流子的空間分布狀況。
軟件可進行同步采集,自動控制和處理,載流子的壽命、載流子的遷移速率、載流子的分布、動力學等信息均可以通過軟件得到。
Omni-TAM900寬場飛秒瞬態吸收成像系統是測量載流子時空演化的強大工具,可廣泛應用于物理、材料及器件的前沿研究,比如:太陽能電池、低維材料、量子器件、超導材料、新型半導體、納米催化、生物傳感等,對納米尺度和飛秒時空尺度中的超快的物理、化學及生物過程進行監測。
光源 | 飛秒激光 +OPA,激光波長范圍取決于應用場景 |
檢測器 | sCMOS |
成像空間分辨率 | 500 nm |
載流子遷移定位精度 | 30nm |
時間分辨率 | 500 fs (100 fs 激光脈沖條件下) |
時間延遲線 | 0-4 ns/0-8 ns |
顯微鏡模塊 | 倒置顯微鏡,上方為開放空間,后期可兼容低溫模塊、探針臺、電學調控、磁場等特殊實驗場景。 |
測量模式 | 點泵浦 + 寬場探測(載流子遷移) 寬場泵浦 + 寬場探測(載流子分布) |
儀器工作模式 | 反射 / 散射 |
J. Am. Chem. Soc. 2022, 144, 13928專li:202110510123.X(以上展示的所有實測數據均為本型號儀器測得,并已公開發表,更多細節請查閱以上文獻)。