♦ 快速溫變試驗箱用于考察產品熱機械性能引起的失效,溫度變化率一般小于20℃/分鐘,再現所測樣件應用環(huán)境條件。當構成產品各部件的材料熱匹配較差,或部件內應力較大時,溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產品由機械結構缺陷劣化產生的失效。一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現產品設計缺陷和工藝問題的有效方法。
♦ GB/T5170.2-2008《溫度試驗設備》;
♦ GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 《低溫試驗方法Ab》;
♦ GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 《低溫試驗方法Bb》;
♦ IEC 60068-2-14 2009 《環(huán)境試驗.第2-14部分試驗.試驗N溫度的改變》。?